檢測(cè)報(bào)告圖片模板：
檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了射線(xiàn)數(shù)字探測(cè)器的儀器與器件、校正對(duì)比和標(biāo)準(zhǔn)操作、檢測(cè)方法、結(jié)果計(jì)算及分析等內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于數(shù)字面陣列探測(cè)器。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 38240-2019
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：無(wú)損檢測(cè)儀器 射線(xiàn)數(shù)字探測(cè)器陣列制造特征
英文名稱(chēng)：Non-destructive testing instruments—Standard practice for manufacturing characterization of digital detector arrays
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2019-10-18
實(shí)施日期：2020-05-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>試驗(yàn)機(jī)與無(wú)損探傷儀器>>N78X射線(xiàn)、磁粉、熒光及其他探傷儀器
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：試驗(yàn)>>19.100無(wú)損檢測(cè)
起草單位：中國(guó)工程物理研究院應(yīng)用電子學(xué)研究所、上海奕瑞光電子科技有限公司、山東省特種設(shè)備研究院濟(jì)寧分院
歸口單位：全國(guó)試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 122)
發(fā)布單位：國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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