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檢測執(zhí)行標準信息一覽：
標準簡介：本標準規(guī)定了半導體激光器主要光電參數的測試方法。本標準適用于半導體激光器主要光電參數的測試。半導體激光器組件可參考執(zhí)行。
標準號：GB/T 31359-2015
標準名稱：半導體激光器測試方法
英文名稱：Test methods of semiconductor lasers
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
標準狀態(tài)：現行
發(fā)布日期：2015-02-04
實施日期：2015-08-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術>>光電子器件>>L51激光器件
國際標準分類號（ICS）：電子學>>31.260光電子學、激光設備
起草單位：西安炬光科技有限公司、中國科學院西安光學精密機械研究所、中國科學院半導體研究所、北京國科世紀激光技術有限公司、武漢華工正源光子技術有限公司、中國電子科技集團公司第十三研究所
歸口單位：全國光輻射安全和激光設備標準化技術委員會(SAC/TC284)
發(fā)布單位：中國標準出版社
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