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GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

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標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點(diǎn)數(shù)量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對GB 2423.1—89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》、GB 2423.2—89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》和GB 2423.22-87《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 5170.2-1996

標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

英文名稱:Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products -Temperature testing equipments

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):作廢

發(fā)布日期:1996-06-17

實(shí)施日期:1997-07-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):試驗(yàn)>>19.080電工和電子試驗(yàn)

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB 5170.2-1985;GB 5170.3-1985;GB 5170.4-1985;被GB/T 5170.2-2008代替

起草單位:電子工業(yè)部第五研究所

歸口單位:電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所

發(fā)布單位:國家技術(shù)監(jiān)督局

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