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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分規(guī)定了太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)ＧＢ／Ｔ２４２３．２４ 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第２部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ｓａ：模擬地面上的太陽(yáng)輻射》所用試驗(yàn)設(shè)備的*次檢驗(yàn)／驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 5170.9-2008
標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備
英文名稱：Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products—Solar radiation testing equipments
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：2008-06-16
實(shí)施日期：2008-09-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：試驗(yàn)>>19.040環(huán)境試驗(yàn)
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 5170.9-1996;被GB/T 5170.9-2017代替
起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所
歸口單位：全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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