標(biāo)準(zhǔn)簡介：本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》所用試驗設(shè)備的*次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。 本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　溫度試驗設(shè)備”；———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；———增加了“術(shù)語和定義”一章；———增加了“溫度波動度”檢驗項目；———增加了“溫度均勻度”檢驗項目；———增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗項目；———增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；———增加了“溫度過沖量”檢驗項目；———增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗項目；———增加了“噪聲”檢驗項目；———刪除了“相對濕度”檢驗項目；———在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k＝２）的要求———增加了“檢驗負(fù)載”一章；———修改了“溫度變化速率”的計算方法；———測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；———刪除了“檢定過程中的處理”部分；———附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”；———刪除了附錄Ｂ “溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 5170.2-2008

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

英文名稱：Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products - Temperature testing equipments

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：2008-06-16

實施日期：2009-03-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：試驗>>19.040環(huán)境試驗

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 5170.2-1996;被GB/T 5170.2-2017代替

起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所

歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

發(fā)布單位：中國電器工業(yè)協(xié)會