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檢測執(zhí)行標準信息一覽：
標準簡介：本規(guī)范是一項新頒布的國家標準，由中華人民共和國住房和城鄉(xiāng)建設部第1497號公告批準，編號為GB50809-2012，自2012年12月1日實施。其中有4條為強制性條文，必須嚴格執(zhí)行。本規(guī)范適用于新建、改建、擴建的硅集成電路芯片工廠的工程設計。
標準號：GB 50809-2012
標準名稱：硅集成電路芯片工廠設計規(guī)范
英文名稱：Code for design of silicon integrated circuits wafer fab
標準類型：國家標準
標準性質：強制性
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2012-10-11
實施日期：2012-12-01
起草單位：信息產業(yè)電子第十一設計研究院科技工程股份有限公司、信息產業(yè)部電子工程標準定額站、中國電子工程設計院、中芯國際硅集成電路制造有限公司、上海華虹NEC微電子有限公司
歸口單位：中華人民共和國工業(yè)和信息化部
發(fā)布單位：住房和城鄉(xiāng)建設部
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