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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本規(guī)范是一項新頒布的國家標(biāo)準(zhǔn)，由中華人民共和國住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部第1497號公告批準(zhǔn)，編號為GB50809-2012，自2012年12月1日實施。其中有4條為強制性條文，必須嚴(yán)格執(zhí)行。本規(guī)范適用于新建、改建、擴建的硅集成電路芯片工廠的工程設(shè)計。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB 50809-2012
標(biāo)準(zhǔn)名稱：硅集成電路芯片工廠設(shè)計規(guī)范
英文名稱：Code for design of silicon integrated circuits wafer fab
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強制性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2012-10-11
實施日期：2012-12-01
起草單位：信息產(chǎn)業(yè)電子第十一設(shè)計研究院科技工程股份有限公司、信息產(chǎn)業(yè)部電子工程標(biāo)準(zhǔn)定額站、中國電子工程設(shè)計院、中芯國際硅集成電路制造有限公司、上海華虹NEC微電子有限公司
歸口單位：中華人民共和國工業(yè)和信息化部
發(fā)布單位：住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部
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