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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本規(guī)范適用于新建、改建和擴(kuò)建的集成電路封裝測(cè)試廠設(shè)計(jì)。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 51122-2015
標(biāo)準(zhǔn)名稱：集成電路封裝測(cè)試廠設(shè)計(jì)規(guī)范
英文名稱：Code for design of integrated circuit assembly and test factory
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2015-08-27
實(shí)施日期：2016-05-01
發(fā)布單位：住房和城鄉(xiāng)建設(shè)部
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