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標準簡介：本指導性技術(shù)文件給出了確定X射線光電子能譜中本底的指南。本指導性技術(shù)文件適用于固體表面X射線激發(fā)的光電子和俄歇電子能譜的本底確定。
標準號：GB/Z 32490-2016
標準名稱：表面化學分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序
英文名稱：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：指導性技術(shù)文件
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2016-02-24
實施日期：2017-01-01
中國標準分類號（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎標準與通用方法
國際標準分類號（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學>>71.040.40化學分析
起草單位：清華大學、中山大學
歸口單位：全國微束分析標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 38)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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