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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本文件規(guī)定了利用原子力顯微術(shù)測量層狀二硫化鉬納米片厚度的測量方法。本文件適用于轉(zhuǎn)移或生長在固體襯底表面的層狀二硫化鉬納米片厚度的測量,測量范圍從單層二硫化鉬納米片至厚度不大于100 nm，其他類似的納米片層材料厚度測量也可參照此方法進(jìn)行。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 40128-2021
標(biāo)準(zhǔn)名稱：表面化學(xué)分析 原子力顯微術(shù) 二硫化鉬片層材料厚度測量方法
英文名稱：Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Test method for thickness of the two-dimensional layered molybdenum disulfide nanosheets
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2021-05-21
實(shí)施日期：2021-12-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.40化學(xué)分析
起草單位：國家納米科學(xué)中心、上海納米技術(shù)及應(yīng)用國家工程研究中心有限公司、上海市計量測試技術(shù)研究院、北京粉體技術(shù)協(xié)會
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 38)
發(fā)布單位：國家市場監(jiān)督管理總局.
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