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標準簡介：本標準適用于室溫下電子器件結構陶瓷材料的楊氏彈切變模量和泊松比的測量。
標準號：GB 5594.2-1985
標準名稱：電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 楊氏彈性模量 泊松比測試方法
英文名稱：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for Young
標準類型：國家標準
標準性質：強制性
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1985-11-27
實施日期：1986-12-01
中國標準分類號（CCS）：>>>>L32
國際標準分類號（ICS）：31.030
起草單位：天津大學
歸口單位：信息產業(yè)部（電子）
發(fā)布單位：國家標準局
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