檢測報告圖片模板:
檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:
標(biāo)準(zhǔn)簡介:本文件規(guī)定了光學(xué)對比度法(包括反射光譜法和光學(xué)圖片法)測量石墨烯相關(guān)二維材料的層數(shù)的儀器設(shè)備、樣品準(zhǔn)備、測量步驟、測試報告等內(nèi)容。本文件適用于利用機械剝離法或化學(xué)氣相沉積法(CVD: chemical vapor deposition)制得的晶體質(zhì)量高、橫向尺寸不小于2 μm、層數(shù)不多于5的石墨烯薄片及石墨烯薄膜的層數(shù)測量。其他方法制得的石墨烯薄片及石墨烯薄膜可參照本文件執(zhí)行。
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 40071-2021
標(biāo)準(zhǔn)名稱:納米技術(shù) 石墨烯相關(guān)二維材料的層數(shù)測量 光學(xué)對比度法
英文名稱:Nanotechnologies—Measurement of the number of layers of graphene-related two-dimensional (2D) materials—Optical contrast method
標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
發(fā)布日期:2021-05-21
實施日期:2021-12-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):綜合>>計量>>A50計量綜合
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):計量學(xué)和測量、物理現(xiàn)象>>光學(xué)和光學(xué)測量>>17.180.30光學(xué)測量儀器
起草單位:泰州巨納新能源有限公司、東南大學(xué)、泰州石墨烯研究檢測平臺有限公司、中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所、哈爾濱工業(yè)大學(xué)(威海)、冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院、江南大學(xué)、華東師范大學(xué)、深圳技術(shù)大學(xué)
歸口單位:全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會納米材料分技術(shù)委員會(SAC/TC
發(fā)布單位:國家市場監(jiān)督管理總局.
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