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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測量方法適用于非本征半導(dǎo)體單晶材料的霍爾系數(shù)、載流子霍爾遷移率、電阻率和載流子濃度。 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測量方法僅在有限的范圍內(nèi)對鍺、硅、砷化鎵單晶材料進行了實驗室測量，但該方法也可適用于其他半導(dǎo)體單晶材料，一般情況下，適用于室溫電阻率高達104Ω·cm
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 4326-2006
標(biāo)準(zhǔn)名稱：非本征半導(dǎo)體單晶霍爾遷移率和霍爾系數(shù)測量方法
英文名稱：Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2006-07-18
實施日期：2006-11-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H21金屬物理性能試驗方法
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：冶金>>金屬材料試驗>>77.040.01金屬材料試驗綜合
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 4326-1984
起草單位：北京有色金屬研究總院
歸口單位：全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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