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檢測執(zhí)行標準信息一覽：
標準號：GB/T 11685-1989
標準名稱：半導體X射線能譜儀的測試方法
英文名稱：Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1989-10-14
實施日期：1990-05-01
中國標準分類號（CCS）：能源、核技術>>核儀器與核探測器>>F80核儀器與核探測器綜合
國際標準分類號（ICS）：計量學和測量、物理現(xiàn)象>>17.240輻射測量
替代以下標準：被GB/T 11685-2003代替
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