標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 11682-1989《低本底α測(cè)量?jī)x》。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低本底α和/或β測(cè)量?jī)x的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法和檢驗(yàn)規(guī)則。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)量弱α、β放射性活度或表面發(fā)射率的儀器，也適用于多用途儀器中的測(cè)量弱α或β放射性的部分。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于測(cè)量α或β能譜類(lèi)型的儀器。本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T 11682-1989相比作了如下修改：———標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為《低本底α和／或β測(cè)量?jī)x》；———增加了測(cè)量低本底β的內(nèi)容；———“規(guī)范性引用文件”中增加了引用的標(biāo)準(zhǔn)；———“術(shù)語(yǔ)和定義”中增加了“串道比”的內(nèi)容；———增加α與β的相互干擾指標(biāo)，即串道比指標(biāo)；———增加了儀器電磁兼容的要求和試驗(yàn)方法；———增加了對(duì)儀器軟件的通用要求；———?jiǎng)h除了“表１　儀器分級(jí)”中本底穩(wěn)定性的技術(shù)指標(biāo)；———?jiǎng)h除了“表２　改變影響量的項(xiàng)目和要求”中變化限值和本底計(jì)數(shù)率的技術(shù)要求。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 11682-2008

標(biāo)準(zhǔn)名稱：低本底α和/或β測(cè)量?jī)x

英文名稱：Low background alpha and/or beta measuring instruments

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2008-07-02

實(shí)施日期：2009-04-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：能源、核技術(shù)>>核儀器與核探測(cè)器>>F84輻射防護(hù)儀器

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：環(huán)保、保健與安全>>13.280輻射防護(hù)

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 11682-1989

起草單位：中核（北京）核儀器廠

歸口單位：全國(guó)核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 30)

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.