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標準簡介：本標準規(guī)定了用紅外吸收測定硅晶體中間隙氧含量的方法。本標準適用于室溫電阻率大于0.1Ω·cm的硅晶體中氧含量的測量。
標準號：GB/T 1557-1989
標準名稱：硅晶體中間隙氧含量的紅外吸收測量方法
英文名稱：The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1989-03-31
實施日期：1990-02-01
中國標準分類號（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H21金屬物理性能試驗方法
國際標準分類號（ICS）：77.040.30;
替代以下標準：替代GB 1557-1983;被GB/T 1557-2006代替
起草單位：上海冶金研究所
歸口單位：中國有色金屬工業(yè)協(xié)會
發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局
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