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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本空白詳細(xì)規(guī)范規(guī)定了制定半導(dǎo)體激光二*管詳細(xì)規(guī)范的基本原則，制定該范圍內(nèi)的所有詳細(xì)規(guī)范應(yīng)與本空白詳細(xì)規(guī)范相一致。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 15649-1995
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體激光二*管空白詳細(xì)規(guī)范
英文名稱：Blank detail specification for semiconductor laser diodes
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1995-07-24
實(shí)施日期：1996-04-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：>>>>L48
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備
起草單位：電子工業(yè)部四十四所
歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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