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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本部分適用于光電子器件的測(cè)試方法，用于光纖系統(tǒng)或子系統(tǒng)的除外。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 15651.3-2003
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件 測(cè)試方法
英文名稱：Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2003-01-01
實(shí)施日期：2004-08-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L50光電子器件組合
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備
起草單位：華禹光谷股份有限公司半導(dǎo)體廠
歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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