檢測報(bào)告圖片模板：
檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子背散射衍射分析方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于安裝了電子背散射衍射附件的掃描電鏡和電子探針進(jìn)行物相識別、晶體取向、顯微織構(gòu)以及晶界特性等方面的分析。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 19501-2013
標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析 電子背散射衍射分析方法通則
英文名稱：Microbeam analysis—General guide for electron backscatter diffraction analysis
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2013-07-19
實(shí)施日期：2014-03-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.50物理化學(xué)分析方
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 19501-2004
起草單位：寶鋼集團(tuán)中央研究院
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)( SAC/TC 38)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫為非營利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請聯(lián)系我們刪除。
