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GB/T12085.19-2011光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第19部分:溫度周期與正弦振動、隨機振動綜合試驗

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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了溫度周期與正弦振動、隨機振動綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記,適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 12085.19-2011

標(biāo)準(zhǔn)名稱:光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第19部分:溫度周期與正弦振動、隨機振動綜合試驗

英文名稱:Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 19:Combined damp heat and low internal pressure

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2011-06-16

實施日期:2011-11-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備

起草單位:上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司、江南永新光學(xué)有限公司、南京東利來光電實業(yè)有限公司等

歸口單位:全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

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