- N +

GB/T12085.16-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

檢測報(bào)告圖片模板:

檢測報(bào)告圖片

檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本部分規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫或低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到彈跳或恒加速度與高溫、低溫影響時(shí)的變化程度。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 12085.16-2010

標(biāo)準(zhǔn)名稱:光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

英文名稱:Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 16:Combined bounce or steady-state acceleration and dry heat or cold

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2011-01-14

實(shí)施日期:2011-05-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 12085.16-1995

起草單位:上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司

歸口單位:全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

標(biāo)準(zhǔn)文檔查詢及下載

免責(zé)聲明:(更多標(biāo)準(zhǔn)請先聯(lián)系客服查詢!)

1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫為非營利性質(zhì),僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用,使用標(biāo)準(zhǔn)請以正式出版的版本為準(zhǔn)。

2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò),不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性,如因使用文件造成損失,本站不承擔(dān)任何責(zé)任。

3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò),本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問題,如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán),請聯(lián)系我們刪除。

返回列表
上一篇:GB/T12085.16-1995光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
下一篇:GB/T12085.17-1995光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法污染與太陽輻射綜合試驗(yàn)