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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB 12085.2-1989
標(biāo)準(zhǔn)名稱:光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫、高溫、濕熱
英文名稱:Optics and optical instruments-Environmental test methods-Cold, heal, humidity
標(biāo)準(zhǔn)類型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):強(qiáng)制性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):作廢
發(fā)布日期:1989-01-02
實(shí)施日期:1990-08-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>17.180光學(xué)和光學(xué)測(cè)量
替代以下標(biāo)準(zhǔn):被GB/T 12085.2-2010代替
起草單位:上海光學(xué)儀器所和貴陽(yáng)光電技術(shù)研究所
歸口單位:全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位:國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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