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標準簡介：本標準規(guī)定了用于校準放射性表面污染監(jiān)測儀的低能β和γ參考源的核素、結(jié)構(gòu)形式、特性及技術要求。本標準適用于校準表面污染監(jiān)測儀的能量低于0??15MeV的β粒子和能量低于1.5MeV的光子的參考源(除3H以外)。所涉及的參考源主要用于校準可測量具有電子俘獲或同質(zhì)異能躍遷衰變核素的表面污染監(jiān)測儀的儀器效率。
標準號：GB/T 12128.2-1999
標準名稱：用于校準表面污染監(jiān)測儀的參考源 第二部分：能量低于0.15MeV 的電子和能量低于1.5MeV 的光子
英文名稱：Reference sources for the calibration of surface contamination monitors--Part 2:Electrons of energy less than 0.15MeV and photons of energy less than 1.5MeV
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1999-01-02
實施日期：2000-08-01
中國標準分類號（CCS）：能源、核技術>>輻射防護與監(jiān)測>>F74輻射防護檢測與評價
國際標準分類號（ICS）：計量學和測量、物理現(xiàn)象>>17.240輻射測量
起草單位：中國輻射防護研究院
歸口單位：全國核能標準化技術委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量技術監(jiān)督局
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