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GB/T 1555-2009半導(dǎo)體單晶晶向測(cè)定方法

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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 1555-2009半導(dǎo)體單晶晶向測(cè)定方法

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體單晶晶向X 射線(xiàn)衍射定向和光圖定向的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定半導(dǎo)體單晶材料大致平行于低指數(shù)原子面的表面取向。

英文名稱(chēng): Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal

替代情況: 替代GB/T 1555-1997

中標(biāo)分類(lèi): 冶金>>半金屬與半導(dǎo)體材料>>H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合

ICS分類(lèi): 電氣工程>>29.045半導(dǎo)體材料

發(fā)布部門(mén): 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

發(fā)布日期: 2009-10-30

實(shí)施日期: 2010-06-01

*發(fā)日期: 1979-05-26

提出單位: 全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

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