GB 5926-1986.Surface eramination method of the metal deposits and converslon coatings for the light Industrial products.
GB 5926適用于檢驗金屬鍍層和化學處理層的外觀質(zhì)量，包括各種表面缺陷、粗糙度和光亮度。
1檢驗項目
試件的外觀檢驗項目取樣方法、數(shù)量和受檢部位，可根據(jù)產(chǎn)品的技術(shù)要求決定。
2各種缺陷的檢驗
2.1試件缺陷的檢驗， 應(yīng)在自然光或光照度在300 ~ 6001x范圍內(nèi)的近似自然光下(例如40W 日光燈),相距為750~ 800 mm的距離下進行正常檢驗。在有爭議或雙方同意的情況下，允許用放大鏡進行參考檢驗。
2.2 為了防止試件反射，影響正常視線，允許用半透明白光紙，隔開光源進行檢驗。
3粗糙度檢驗
按產(chǎn)品的技術(shù)要求，可以選用下述不同的測試方法:
3.1 在一般情況下，允許用雙方同意的、在有效期限內(nèi)的實物或標準樣板，用肉眼作對比測定。實物或樣板(標準)應(yīng)妥善保管，防止走樣。
3.2電動輪廓儀
8.2.1本方 法是利用尖銳觸針，由試件所感觸到的微觀不平度，通過放大系統(tǒng)，在指示器上顯示出來的一種方法。-般適合于測定Ra6.3~0.025μm之間的粗糙度。
3.2.2凡符合規(guī)定的各類輪廓儀均可使用。按儀器規(guī)定的程序進行操作。一般在試件 上測量多處，取其平均值。測量次數(shù)，由產(chǎn)品要求規(guī)定。
3.3雙管顯微鏡
8.3.1 本方法是利用光截面法，把投射到被測部位的反射影像加以放大，然后再從垂直于輪廓形象的方向.上測量，經(jīng)過計算而得。一般適宜于測定Ra0.2μ m以下的粗糙度。
3.3.2各種類型的雙 管顯微鏡均可采用。按儀器規(guī)定的程度進行操作。一般在試件上測量多處，取其平均值。測量次數(shù)由產(chǎn)品要求規(guī)定。
3.4干涉顯微鏡
3.4.1本方法是利用光波的干 涉現(xiàn)象，以千涉帶的曲折程度表示。可以測量Ra0.2~0.012μm之間的粗糙度。
3.4.2各種類型的 千涉顯微鏡均可使用，按儀器規(guī)定的手續(xù)操作。-般在試件上測量多處，取其平均值。測量次數(shù)，由產(chǎn)品要求規(guī)定。