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電工電子產(chǎn)品環(huán)境檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?

參考答案:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境檢測報(bào)告如何辦理?測試哪些項(xiàng)目?測試標(biāo)準(zhǔn)有哪些?

檢測項(xiàng)目:

溫濕試驗(yàn) )穩(wěn)態(tài)、低溫試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、正弦振動(dòng)試驗(yàn)、溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn)、防塵試驗(yàn)、防水試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、交變濕熱試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)、低溫/振動(dòng)綜合試驗(yàn)、振動(dòng)、機(jī)械沖擊、溫度/濕度循環(huán)試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)、溫度濕度振動(dòng)、鹽霧試驗(yàn)、碰撞、跌落、防塵、高溫/振動(dòng)綜合試驗(yàn)、恒定濕熱(元件加速試驗(yàn))試驗(yàn)、鹽霧、交變?cè)囼?yàn)、 (氯化鈉溶液)、防水試驗(yàn)等級(jí)和要求、沖擊試驗(yàn)、外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼)、恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)、恒定濕熱、隨機(jī)振動(dòng)、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)、溫度變化、交變濕熱、綜合氣候(溫度/濕度)和動(dòng)態(tài)(振動(dòng)/沖擊)試驗(yàn)、鹽霧測試、循環(huán)鹽霧試驗(yàn)、防塵試驗(yàn)等級(jí)和要求、冰水沖擊試驗(yàn)、鹽霧、自由跌落、全部參數(shù)、沖擊響應(yīng)譜、寬帶隨機(jī)振動(dòng)、振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)、粗率操作造成的沖擊、試驗(yàn)樣品的安裝、氣候(溫度、濕度)和動(dòng)力學(xué)(振動(dòng)、沖擊)綜合試驗(yàn)、正弦振動(dòng)、高溫

檢測標(biāo)準(zhǔn):

1、GB/T 4208-2017 外殼防護(hù)等級(jí)IP代碼

2、IEC 60068-2-2:2007 基本環(huán)境試驗(yàn)程序.第2-2部分:試驗(yàn).試驗(yàn)B:干熱

3、GB/T 2423.34-2012 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分 試驗(yàn)Z/AD:溫度、濕度組合循環(huán)

4、IEC 60068-2-38:2009 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分 試驗(yàn)Z/AD:溫度、濕度組合循環(huán)

5、GB/T 28046.4:2011 ISO 16750-4:2010 道路車輛 電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn) 第4部分:氣候符合 GB/T28046.4:2011 ISO 16750-4:2010

6、GB/T 2423.43-2008/IEC 60068-2-47:2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 振動(dòng)、沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝

7、GJB 150.3A-2009 **裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)

8、GB/T2423.56-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)和導(dǎo)則

9、GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化 GB/T 2423.22-2012

10、GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞

11、 ISO20653-2006 外殼防護(hù)等級(jí)IP代碼

12、IEC60068-2-2:2007 GB/T 2423.2-2008 基本環(huán)境試驗(yàn)程序.第2-2部分:試驗(yàn).試驗(yàn)B:干熱

13、GB/T 2423.35-2019 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)和導(dǎo)則 氣候(溫度、濕度)和動(dòng)力學(xué)(振動(dòng)、沖擊)綜合試驗(yàn)

14、IEC 60068-2-11-1981 GB/T 2423.17-2008 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分 試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)

15、IEC 60068-2-1:2007 環(huán)境試驗(yàn)第2部分:低溫試驗(yàn) IEC 60068-2-1:2007

16、IEC 60068-2-2-2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分:試驗(yàn)方法 高溫

17、GB/T 2423.17-2008/IEC 60068-2-11:2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧

18、GB/T2423.7-2018 環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec:粗率操作造成的沖擊(主要用于設(shè)備型樣品)

19、GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)M:低氣壓

20、IEC60068-2-27:2008 環(huán)境試驗(yàn)第2-27部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請(qǐng)咨詢客服。

檢測流程步驟

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