報告類型： 【電子元器件金屬化掃描電子顯微鏡（SEM）檢驗檢測】電子報告、紙質(zhì)報告(中文報告、英文報告、中英文報告)
報告資質(zhì)： CMA；CNAS
檢測周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務地區(qū)： 全國，實驗室就近分配
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進；產(chǎn)品認證；出口通關檢驗等
樣品要求： 樣品支持快遞取送/上門采樣，數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定
檢測報告圖片
電子元器件檢測項目標準及流程是什么？實驗室可依據(jù)GJB 128A -97半導體分立器件試驗方法檢測標準規(guī)范中的試驗方法，對電子元器件金屬化掃描電子顯微鏡（SEM）檢驗檢測等項目進行準確測試。
檢測對象
電子元器件
檢測項目
金屬化掃描電子顯微鏡（SEM）檢驗檢測
檢測標準
GJB 128A -97半導體分立器件試驗方法檢測
相關標準
《GB 7000.1-2015》燈具一般要求與試驗 GB 7000.1-2015 3
《GB 24906-2010》普通照明用50V以上自鎮(zhèn)流LED燈 安全要求 GB 24906-2010
《GB/T2423.3-2016》環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗 GB/T2423.3-2016
《GB 7000.1-2015》燈具一般要求與試驗 GB 7000.1-2015 7
《GB 17625.2-2007》電磁兼容 限值 對每相額定電流≤16A且無條件接入的設備在公用低壓供電系統(tǒng)中產(chǎn)生的電壓變化、電壓波動和閃爍的限制 GB 17625.2-2007
《GB 7000.1-2015》燈具 第1部分:一般要求與試驗 GB 7000.1-2015 11
《GB 7000.1-2015》燈具 第1部分:一般要求與試驗 GB 7000.1-2015 10
《GB 7000.1-2015》燈具 第1部分:一般要求與試驗 GB 7000.1-2015 13
《GB 7000.1-2015》燈具 第1部分:一般要求與試驗 GB 7000.1-2015 7
《GB 7000.1-2015》燈具一般要求與試驗 GB 7000.1-2015 10.3
百檢也可根據(jù)您的需求設計檢測方案，如果您對電子元器件檢測有嚴格要求，不妨考慮選擇我們。更多信息請咨詢客服。
檢測報告有效期
一般電子元器件金屬化掃描電子顯微鏡（SEM）檢驗檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間，不會標注有效期。
檢測費用價格
需要根據(jù)檢測項目、樣品數(shù)量及檢測標準而定，請聯(lián)系我們確定后報價。
檢測流程步驟
檢測機構(gòu)平臺
百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國，檢測領域全行業(yè)覆蓋，為您提供電子元器件金屬化掃描電子顯微鏡（SEM）檢驗檢測服務。具體請咨詢在線客服。
