- N +

電子元器件金屬化掃描電子顯微鏡(SEM)檢驗(yàn)檢測

報告類型: 【電子元器件金屬化掃描電子顯微鏡(SEM)檢驗(yàn)檢測】電子報告、紙質(zhì)報告(中文報告、英文報告、中英文報告)

報告資質(zhì): CMA;CNAS

檢測周期: 3-10個工作日(特殊樣品除外)

服務(wù)地區(qū): 全國,實(shí)驗(yàn)室就近分配

檢測用途: 電商平臺入駐;商超賣場入駐;產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn);產(chǎn)品認(rèn)證;出口通關(guān)檢驗(yàn)等

樣品要求: 樣品支持快遞取送/上門采樣,數(shù)量及規(guī)格等視檢測項(xiàng)而定

概覽

檢測報告圖片

檢測報告圖片

電子元器件檢測項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實(shí)驗(yàn)室可依據(jù)GJB 548B-2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗(yàn)方法,對電子元器件金屬化掃描電子顯微鏡(SEM)檢驗(yàn)檢測等項(xiàng)目進(jìn)行準(zhǔn)確測試。

檢測對象

電子元器件

檢測項(xiàng)目

金屬化掃描電子顯微鏡(SEM)檢驗(yàn)檢測

檢測標(biāo)準(zhǔn)

GJB 548B-2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序檢測

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

《GB 24906-2010》普通照明用50V以上自鎮(zhèn)流LED燈 安全要求 GB 24906-2010

《GB/T2423.3-2016》環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn) GB/T2423.3-2016

《GB/T2423.3-2016》電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn) GB/T2423.3-2016

《GB/T2423.1-2008》電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 GB/T2423.1-2008

《GB 17625.2-2007》電磁兼容 限值 對每相額定電流≤16A且無條件接入的設(shè)備在公用低壓供電系統(tǒng)中產(chǎn)生的電壓變化、電壓波動和閃爍的限制 GB 17625.2-2007

《GB/T 4857.7-2005,ISO 2247:2000》包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第7部分:正弦定頻振動試驗(yàn)方法 GB/T 4857.7-2005,ISO 2247:2000

《GB/T2423.4-2008》GB/T2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))

《GB/T 4857.2-2005,ISO 2233:2000》包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第2部分:溫濕度調(diào)節(jié)處理 GB/T 4857.2-2005,ISO 2233:2000

《GB 24906-2010》普通照明用50V以上自鎮(zhèn)流LED燈 安全要求 GB 24906-2010 6

《GB/T 4857.23-2012,ASTM D4728:2006》包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第23部分:隨機(jī)振動試驗(yàn)方法 GB/T 4857.23-2012,ASTM D4728:2006

百檢也可根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測方案,如果您對電子元器件檢測有嚴(yán)格要求,不妨考慮選擇我們。更多信息請咨詢客服。

檢測報告有效期

一般電子元器件金屬化掃描電子顯微鏡(SEM)檢驗(yàn)檢測報告上會標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時間、出具報告的時間,不會標(biāo)注有效期。

檢測費(fèi)用價格

需要根據(jù)檢測項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測標(biāo)準(zhǔn)而定,請聯(lián)系我們確定后報價。

檢測流程步驟

檢測流程步驟

檢測機(jī)構(gòu)平臺

百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機(jī)構(gòu)遍布全國,檢測領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋,為您提供電子元器件金屬化掃描電子顯微鏡(SEM)檢驗(yàn)檢測服務(wù)。具體請咨詢在線客服。

返回列表
上一篇:電子元器件金屬化掃描電子顯微鏡(SEM)檢驗(yàn)檢測
下一篇:返回列表