檢測報告圖片

Tecnai G2 F30 S-TWIN透射電子顯微鏡是一個真正多功能、多用戶環(huán)境的30OkV場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件，能采集TEM明場、暗場像和高分辨像，能進行選區(qū)電子衍射和匯聚束衍射，能進行EDX能潛分析和高分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結(jié)合EDX點線、面掃描的可以進行微區(qū)能潛分析。該儀器還配備了相關(guān)的制樣設備，包括Gantan691離子減薄儀、磁力雙噴電解減薄囂和凹坑儀等，可以進行金屆、生物以及高分子材料等樣品的透射電子顯微鏡的制樣工作。該儀器可廣泛應用于高分子材料、陶瓷、納米材料、生物學、醫(yī)學、化學、物理學、地質(zhì)學、金屬、半導體材料等領(lǐng)域的科研，是研究各種材料的超顯微結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系所不可缺少的大型精密儀器。

送樣要求：

粉末樣品:樣品量≥2mg(磁性樣品必須由承方制樣)。

液體樣品:樣品量≥0.5ml(磁性樣品必須由承檢方制樣)。

塊體樣品:樣品尺寸≥3mm,若小于該尺寸請聯(lián)系在線客服具體確認。

測試說明

1.形貌像測試我們會提供11張左右照片，形貌加高分辨提供17張左右，能譜點測兩處位置，電子衍射1處，能譜面分布/能譜線掃提供一處位置，且面分布不提供元素比例，若需提供，請選擇面分布+能譜比例。HAADF暗場像提供4張照片，一般/中心暗場像提供一張圖片。

2.不需要形貌像的測試，普通樣品加收152 0173 3840元基礎上機費用，磁性樣品300元基礎上機費。

3.對于碳量子點/銀簇/銅簇等粒徑小于5nm的量子點，如未發(fā)現(xiàn)，收取100元基礎上機費用。

4.納米材料制樣默認的支持膜為銅材質(zhì)超薄碳支持膜，支持膜的主要成分為Cu/C/O/H,如做能譜表征需要避開Cu元素的干擾，請注明使用非銅材質(zhì)的支持膜。

5.零維納米材料和三維納米材料(如量子點/納米顆粒)一般都是使用超薄碳支持膜，一維納米材料和二維納米材料(如納米線/石墨烯)一般使用帶孔的微柵支持膜，如果只拍形貌像介意背景上有孔，請注明使用普通支持膜，清晰度可能會不高。

6.選區(qū)電子衍射測試對于納米材料來說晶粒比較小，無法踩正帶軸，選擇普通電子衍射測試即可;對于塊體樣品我們可提供踩正帶軸的服務，收費為152 0173 3840元/位置，請說明針對哪些物相采正帶軸。

7.對于離子減薄制樣中的常規(guī)韌性材料指Al/Cu/Fe/Co/Ni/Ti等金屬;脆性材料指陶瓷材料/粉末燒結(jié)的脆性材料/高熵合金/甩帶材料/非晶材料等，如NdFeB、Cu-石墨、BaTiO3等;軟硬相間的材料指由兩種硬度差別比較大的金屬組成的合金如WCu合金,TiAl, Ni3Al等;易氧化的材料指Mg Zn Sn等金屬及其合金;超硬材料指硬度大于SiC的各種材料，如Al2O3. MgO, SiO2. SiC, Si3N4等。

8.針對離子減薄樣品，由于樣品本身情況造成的拍攝不成功，制樣費和基本上機費(普通樣品200元;磁性樣品300元)正常收取。(例：金屬樣品析出相/特定物質(zhì)分布不均或數(shù)量特別少而導致的拍攝不成功)。

9.對于樣品的磁性及疏松情況和顆粒之間結(jié)合力請仔細確認，如磁性脆性的NdFeB，無壓燒結(jié)的陶瓷樣品等。否則因隱瞞樣品信息導致儀器損壞，您將承擔全部賠償責任。

10.檢測周期：5個工作日(默認);10個工作日(減薄制樣+測試);超薄切片10個工作日。若樣品特殊(非常規(guī)塊體)或數(shù)量較多(≥5)，檢測周期可能會有所延長，具體可詢問客服人員。

11.如因儀器損壞等不可抗力造成檢測周期延誤的，我們會第一時間通知您而無須承擔檢測周期延誤的責任。

12.生物樣本請優(yōu)先選擇鎢燈絲透射電鏡進行測試，如必須打能譜或看高分辨再選擇場發(fā)射電鏡。

檢測報告有效期

一般透射電鏡測試報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間，不會標注有效期。

檢測費用價格

需要根據(jù)檢測項目、樣品數(shù)量及檢測標準而定，請聯(lián)系我們確定后報價。

檢測流程步驟

檢測機構(gòu)平臺

百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國，檢測領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋，為您提供透射電鏡測試服務。具體請咨詢在線客服。