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土壤、底質(zhì)參數(shù)檢測(cè)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么？實(shí)驗(yàn)室可依據(jù)HJ 834-2017土壤和沉積物 半揮發(fā)性有機(jī)物的測(cè)定 氣相色譜-質(zhì)譜法檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗(yàn)方法，對(duì)土壤、底質(zhì)參數(shù)半揮發(fā)性有機(jī)物檢測(cè)等項(xiàng)目進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)試。

檢測(cè)對(duì)象

土壤、底質(zhì)參數(shù)

檢測(cè)項(xiàng)目

半揮發(fā)性有機(jī)物檢測(cè)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

HJ 834-2017土壤和沉積物 半揮發(fā)性有機(jī)物的測(cè)定 氣相色譜-質(zhì)譜法檢測(cè)

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

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《IEC 62321-7-2:2017》電工產(chǎn)品中特定有害物質(zhì)的測(cè)定—第7-2部分：六價(jià)鉻-比色法測(cè)定聚合物和電子件中的六價(jià)鉻 IEC 62321-7-2:2017

《GB/T 19466.1-2004》塑料差示掃描量熱法（DSC） 第1部分:通則 GB/T 19466.1-2004

《IEC 62321-7-2:2017》電子電氣產(chǎn)品限用物質(zhì)-第7-2部分用比色法測(cè)定聚合物和電子材料中的六價(jià)鉻 IEC 62321-7-2:2017

《IEC 62321-5:2013》電子電氣產(chǎn)品限用物質(zhì)-第5部分用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS測(cè)定聚合物和電子材料中的鎘、鉛和鉻以及金屬中的鎘和鉛 IEC 62321-5:2013

《IEC 62321-5:2013》電子電氣產(chǎn)品中特定物質(zhì)的測(cè)定--第5部分:原子吸收光譜法、原子熒光法、電感耦合等離子體光譜法和電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定聚合物和電子產(chǎn)品中鎘、鉛和鉻，金屬中鎘和鉛的含量 IEC 62321-5:2013

《IEC 62321-5:2013》電子產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測(cè)定-第五部分：使用AAS、AFS、 ICP-OES、 ICP-MS測(cè)定聚合物和電子部件中的鎘 鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛 IEC 62321-5:2013

《GB/T 19466.1-2004》塑料 差示掃描量熱法（DSC）第1部分：通則 GB/T 19466.1-2004

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檢測(cè)報(bào)告有效期

一般土壤、底質(zhì)參數(shù)半揮發(fā)性有機(jī)物檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)

百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國，檢測(cè)領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋，為您提供土壤、底質(zhì)參數(shù)半揮發(fā)性有機(jī)物檢測(cè)服務(wù)。具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。