檢測(cè)報(bào)告圖片
珠寶檢測(cè)儀檢測(cè)報(bào)告如何辦理？測(cè)試哪些項(xiàng)目呢？檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格是多少呢？下面小編為您解答。百檢也可依據(jù)相應(yīng)珠寶檢測(cè)儀檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案。【詳情咨詢：132-6275-2056】。做檢測(cè)，上百檢！我們只做真實(shí)檢測(cè)。
檢測(cè)周期
一般3-15個(gè)工作日，可加急。
檢測(cè)方式
可寄樣檢測(cè)、目測(cè)檢測(cè)、見證試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)等。
檢測(cè)費(fèi)用
具體根據(jù)珠寶檢測(cè)儀檢測(cè)檢測(cè)數(shù)量和項(xiàng)目而定。詳情請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。
檢測(cè)產(chǎn)品
0珠寶檢測(cè)儀簡(jiǎn)介
珠寶檢測(cè)儀是待測(cè)樣品的一個(gè)穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。利用能譜儀分析探測(cè)器輸出信號(hào)的能量大小及強(qiáng)度，對(duì)樣品進(jìn)行定量，定性分析。
1珠寶檢測(cè)儀影響因素
影響XRF測(cè)金儀的檢測(cè)結(jié)果的因素有很多。由于*飾產(chǎn)品的特殊情況，受方法原理的限制，在使用本方法時(shí)檢測(cè)人員應(yīng)了解和熟悉以下影響結(jié)果的因素（這些影響因素在不同情況下將對(duì)特征譜線強(qiáng)度的采集產(chǎn)生很大的影響，甚至造成誤判）：
a)被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)所含元素組成和含量有較大的差異；
b)被測(cè)樣品的表面有鍍層或經(jīng)化學(xué)處理；
c)測(cè)量時(shí)間；
d)樣品的形狀；
e)樣品測(cè)量的面積；
f)貴金屬的含量多少；
XRF測(cè)金儀檢測(cè)出來的結(jié)果通常需要全面理解，由于被測(cè)的*飾產(chǎn)品不同，使用的儀器不同，檢測(cè)人員的素質(zhì)水平不同，對(duì)檢測(cè)結(jié)果的接收范圍建議在以下范圍內(nèi)選取。隨貴金屬含量的減少，可接收的范圍將增大。測(cè)量結(jié)果的誤差范圍為0.1%—3%，也可以根據(jù)委托方的協(xié)議確定，對(duì)結(jié)果如有爭(zhēng)議，應(yīng)以GB/T 9288、GB/T 11886和QB/T 1656的分析結(jié)果為準(zhǔn)。
X熒光光譜儀，具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。 測(cè)量樣品的尺寸要求為直徑51mm,高40mm.
儀器類別： 0303040903 /儀器儀表 /成份分析儀器 /熒光光度計(jì)
指標(biāo)信息： 1.發(fā)射源是Rh靶X光管，電流125mA，電壓60kV，功率3kW 2.儀器在真空條件下工作，真空度<13pascals 3.5塊分析晶體，可以分析元素周期表F～U之間所有元素，含量范圍是ppm～100% 4.分析軟件是Philips公司（現(xiàn)為PANalytical）版軟件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在計(jì)算率N=1483870時(shí)，RSD=0.08% 穩(wěn)定性計(jì)算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相對(duì)誤差為0.03%
分析對(duì)象主要有各種磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態(tài)樣品的無標(biāo)半定量分析，對(duì)于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結(jié)果接近于定量分析的準(zhǔn)確度。X熒光分析快速，某些樣品當(dāng)天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控。
2珠寶檢測(cè)儀主要優(yōu)勢(shì)
1 ) 3秒鐘內(nèi)可對(duì)金銀飾品進(jìn)行定性識(shí)別,30秒～60秒自動(dòng)計(jì)算出*飾的精確含量
2 ) 對(duì)樣品無需任何物理和化學(xué)處理，即無損檢測(cè)金銀飾品
3 ) 分析范圍：能夠分析金，鉑，銀，鈀等含量0.3%～99.99%
4) 安全性能指針符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求(光線激發(fā)源為MO靶X光管)
5) 具有溫濕度自動(dòng)補(bǔ)償功能
6) 符合較嚴(yán)格的輻射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)的同時(shí)更具備簡(jiǎn)易的樣品放置和耗材更換模式（采用滑蓋設(shè)計(jì)）
7) 探頭指針高，性能好，壽命長(zhǎng)；
8) 全新32位軟硬件系統(tǒng)，工作可靠，效率高
9) 全球率先將先進(jìn)的攝像定位技術(shù)引入珠寶檢測(cè)領(lǐng)域。該攝像定位系統(tǒng)除讓*飾檢測(cè)更加直觀、X熒光更集中于目標(biāo)位置外，還可以將*飾被檢測(cè)到的精確位置的照片對(duì)應(yīng)于檢測(cè)結(jié)果，連同計(jì)算報(bào)告一起打印出來。
10）集成工業(yè)計(jì)算機(jī)在設(shè)備機(jī)箱內(nèi)，無需外接計(jì)算機(jī)；帶門鎖電鎖，使日常管理更便捷
3珠寶檢測(cè)儀主要用途
X熒光光譜測(cè)金儀亦稱XRF,設(shè)備其分析方法，是具有一定能量分辨率的X射線探測(cè)器同時(shí)探測(cè)樣品所發(fā)出的各種能量特征X射線，探測(cè)器輸出信號(hào)幅度與接收到的X射線能量成正比，利用能譜儀分析探測(cè)器輸出信號(hào)的能量大小及強(qiáng)度，對(duì)樣品進(jìn)行定量，定性分析。
4珠寶檢測(cè)儀原理
待測(cè)樣品的一個(gè)穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運(yùn)轉(zhuǎn)，它們按不同的能量分布在不同的電子殼層，分布在同一殼層的電子具有相同的能量。
當(dāng)具有高能量的入射（一次）X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí)，會(huì)打破（待測(cè)樣品的）原子結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性。處于低能量電子殼層（如：K層）的電子更容易被激發(fā)而從原子中逐放出來，電子的逐放會(huì)導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)的電子空位，這時(shí)處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會(huì)躍遷到該低能量電子殼層來補(bǔ)充相應(yīng)的電子空位。由于不用電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量，這一個(gè)過程就是我們所說的X射線熒光（XRF）。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量——每種元素的發(fā)射強(qiáng)度與樣品中的元素含量成正比，通過預(yù)先設(shè)置好的校正曲線計(jì)算出來，可顯示其含量。
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檢測(cè)流程步驟
溫馨提示：《珠寶檢測(cè)儀檢測(cè)》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。
