檢測(cè)報(bào)告圖片
集成電路測(cè)試儀檢測(cè)報(bào)告如何辦理？測(cè)試哪些項(xiàng)目呢？檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格是多少呢？下面小編為您解答。百檢也可依據(jù)相應(yīng)集成電路測(cè)試儀檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案?！驹斍樽稍儯?32-6275-2056】。做檢測(cè)，上百檢！我們只做真實(shí)檢測(cè)。
檢測(cè)周期
一般3-15個(gè)工作日，可加急。
檢測(cè)方式
可寄樣檢測(cè)、目測(cè)檢測(cè)、見證試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)等。
檢測(cè)費(fèi)用
具體根據(jù)集成電路測(cè)試儀檢測(cè)檢測(cè)數(shù)量和項(xiàng)目而定。詳情請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。
檢測(cè)產(chǎn)品
0集成電路測(cè)試儀簡(jiǎn)介
集成電路測(cè)試儀是對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試的專用儀器設(shè)備。集成電路測(cè)試是保證集成電路性能、質(zhì)量的關(guān)鍵手段之一。集成電路測(cè)試技術(shù)是發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)的三大支撐技術(shù)之一，因此，集成電路測(cè)試儀作為一個(gè)測(cè)試門類受到很多國家的高度重視。40年來，隨著集成電路發(fā)展到第四代，集成電路測(cè)試儀也從較初測(cè)試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測(cè)試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，到了八十年代，超大規(guī)模集成電路測(cè)試儀進(jìn)入全盛時(shí)期
1集成電路測(cè)試儀集成電路測(cè)試儀組成
集成電路測(cè)試儀的整體結(jié)構(gòu)如圖所示：
整個(gè)系統(tǒng)機(jī)械上采用插槽式結(jié)構(gòu)，所有系統(tǒng)板都通過系統(tǒng)插槽插到機(jī)箱背板上，機(jī)箱背板上的系統(tǒng)內(nèi)總線通過PCI接口板與計(jì)算機(jī)PCI總線相連。機(jī)箱背板上共涉及12個(gè)插槽，其中一個(gè)用于插系統(tǒng)控制板，一個(gè)用于插電源模塊，其余10個(gè)是通用插槽，根據(jù)測(cè)試需要可以插任何一個(gè)系統(tǒng)版。被測(cè)器件DUT通過繼電器矩陣板與測(cè)試儀連接，繼電器矩陣板完成被測(cè)器件DUT與測(cè)試儀各通道之間的切換。測(cè)試儀通過PCI總線與計(jì)算機(jī)相連，整個(gè)系統(tǒng)的控制由計(jì)算機(jī)完成。該系統(tǒng)可以一次完成兩個(gè)被測(cè)器件DUT的測(cè)試。
2集成電路測(cè)試儀集成電路測(cè)試儀供能
1.測(cè)試模擬集成電路、數(shù)字集成電路以及數(shù)?；旌霞呻娐?。
2.測(cè)試IC器件的直流、交流及動(dòng)態(tài)參數(shù)。
3.可提供多達(dá)64管腳的模擬IC測(cè)試和32管腳的數(shù)字IC測(cè)試能力。
3集成電路測(cè)試儀發(fā)展過程
集成電路測(cè)試儀的發(fā)展過程可以粗略地分為四個(gè)時(shí)代。
代始于1965年，測(cè)試對(duì)象是小規(guī)模集成電路，可測(cè)管腳數(shù)達(dá)16只。用導(dǎo)線連接、撥動(dòng)開關(guān)、按鈕插件、數(shù)字開關(guān)或二極管矩陣等方法，編制自動(dòng)測(cè)試序列，僅僅測(cè)量IC外部管腳的直流參數(shù)。
第二代始于1969年，此時(shí)計(jì)算機(jī)的發(fā)展已達(dá)到適用于控制測(cè)試儀的程度，測(cè)試對(duì)象擴(kuò)展到中規(guī)模集成電路，可測(cè)管腳數(shù)24個(gè)，不但能測(cè)試IC的直流參數(shù)，還可用低速圖形測(cè)試IC的邏輯功能。這是一個(gè)飛躍。
第三代始于1972年，這時(shí)的測(cè)量對(duì)象擴(kuò)展到大規(guī)模集成電路（LSI），可測(cè)管腳數(shù)達(dá)60個(gè)，較突出的進(jìn)步是把功能測(cè)試圖形速率提高到10MHz。從1975年開始，測(cè)試對(duì)象為大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路（LSI/VLSI），可測(cè)管腳劇增到128個(gè)，功能測(cè)試圖形速率提高到20MHz。不但能有效地測(cè)量CMOS電路，也能有效地測(cè)量TTL、ECL電路。此時(shí)作為獨(dú)立發(fā)展的半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，無論其軟件、硬件都相當(dāng)成熟。
1980年測(cè)試儀進(jìn)入第四代，測(cè)量對(duì)象為VLSI，可測(cè)管腳數(shù)高達(dá)256個(gè)，功能測(cè)試圖形速率高達(dá)100MHz，測(cè)試圖形深度可達(dá)256K以上。測(cè)試儀的智能化水平進(jìn)一步提高，具備與計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)（CAD）連接能力，利用自動(dòng)生成測(cè)試圖形向量，并加強(qiáng)了數(shù)字系統(tǒng)與模擬系統(tǒng)的融合。有些系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了與激光修調(diào)設(shè)備連機(jī)工作，對(duì)存儲(chǔ)器、A/D、D/A等IC芯片進(jìn)行修正。從1970年仙童(Fairchard)公司形成Sentry系列以來，繼而形成系列的還有泰克（Tektronix）公司的3200系列，泰瑞達(dá)(Teradyne)公司的A380系列、A300系列、日木安藤電氣（AndoElectron）的8000系列、愛德萬(Aduantest)的T3100、T320、T3700系列以及美國Megatest公司的Q-11系列，都取得較好的效益 。
21世紀(jì)，測(cè)試儀的功能測(cè)試速率已達(dá)500MHz以上，可測(cè)管腳數(shù)多達(dá)1024個(gè)，定時(shí)精度±55ps，測(cè)試儀的發(fā)展速度是驚人的。
4集成電路測(cè)試儀分類
按集成電路分類：數(shù)字集成電路測(cè)試儀和模擬集成電路測(cè)試儀
按功能分類：集成電路功能測(cè)試儀和集成電路參數(shù)測(cè)試儀
按形式分類：便攜式集成電路測(cè)試儀和臺(tái)式集成電路測(cè)試儀
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檢測(cè)流程步驟
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