檢測(cè)報(bào)告圖片

x射線分析和掃描檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照x射線分析和掃描檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè)，找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及x射線分析和掃描的標(biāo)準(zhǔn)有22條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線分析和掃描涉及到光學(xué)設(shè)備、分析化學(xué)、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、物理學(xué)、化學(xué)。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線分析和掃描涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、化學(xué)、電子元件綜合、顏料。

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線分析和掃描的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 17362-1998黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法

GB/T 17362-2008黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線分析和掃描的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E3309-21用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法（SEM/EDS）報(bào)告法醫(yī)底漆彈殘留物（pGSR）分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-20通過(guò)掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E1588-17通過(guò)掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E1588-2017采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E1588-16a通過(guò)掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E1588-16用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法分析彈殘留物的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-2016采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-10e1用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法分析彈殘留物的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-10用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法分析彈殘留物的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-2010e1掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-08用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法分析彈殘留物的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-07e1用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法分析彈殘留物的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-07用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法分析彈殘留物的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-2007用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測(cè)定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-2007e1用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測(cè)定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-2016a采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線分析和掃描的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 15632:2021微束分析.與掃描電子顯微鏡（SEM）或電子探針顯微分析儀（EPMA）一起使用的能量色散X射線光譜儀（EDS）規(guī)范和檢查用選定儀器性能參數(shù)

ISO/TS 10798-2011納米技術(shù).使用掃描電鏡與X射線能譜分析的單臂碳納米管的特征描述

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線分析和掃描的標(biāo)準(zhǔn)

BS DD ISO/TS 10798-2011毫微技術(shù).利用掃描電子顯微鏡和能量色散X射線光譜法分析得出單層碳納米管的表示特征

福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線分析和掃描的標(biāo)準(zhǔn)

DB35/T 110-2000油漆物證檢測(cè)電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般x射線分析和掃描檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容為部分列舉，僅供參考使用。更多檢測(cè)問(wèn)題請(qǐng)咨詢客服。