半導體生產線檢測

檢測報告圖片

半導體生產線檢測報告如何辦理？檢測項目及標準有哪些？百檢第三方檢測機構，嚴格按照半導體生產線檢測相關標準進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。

涉及半導體生產線的標準有14條。

國際標準分類中，半導體生產線涉及到集成電路、微電子學。

在中國標準分類中，半導體生產線涉及到混合集成電路、膜集成電路、半導體集成電路、微電路綜合。

KS C IEC 60748-23-3:2004半導體器件.集成電路.第23-3部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.生產者自審清單和報告

KS C IEC 60748-23-1:2004半導體器件.集成電路.第23-1部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.總規(guī)范

KS C IEC 60748-23-3-2004(2019)半導體器件集成電路第23－3部分:混合集成電路和薄膜結構生產線認證制造商自審檢查表和報告

KS C IEC 60748-23-1-2004(2019)半導體器件集成電路第23－1部分:混合集成電路和薄膜結構生產線認證總規(guī)范

BS IEC 60748-23-5:2004半導體器件.集成電路.第23-5部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.合格鑒定規(guī)程

BS IEC 60748-23-2:2002半導體器件.集成電路.混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.內部目視檢查和特殊試驗

BS IEC 60748-23-4:2002半導體器件.集成電路.混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.空白詳細規(guī)范

BS IEC 60748-23-3:2002半導體器件.集成電路.混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.生產商自審清單和報告

BS IEC 60748-23-1:2002半導體器件.集成電路.混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.總規(guī)范

IEC 60748-23-5:2003半導體器件.集成電路.第23-5部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.鑒定批準

IEC 60748-23-2:2002半導體器件.集成電路.第23-2部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.內部審查和特殊試驗

IEC 60748-23-3:2002半導體器件.集成電路.第23-3部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.生產者自審清單和報告

IEC 60748-23-1:2002半導體器件.集成電路.第23-1部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.總規(guī)范

IEC 60748-23-4:2002半導體器件.集成電路.第23-4部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.空白詳細規(guī)范

一般半導體生產線檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間，不會標注有效期。

需要根據檢測項目、樣品數量及檢測標準而定，請聯(lián)系我們確定后報價。

溫馨提示：以上內容為部分列舉，僅供參考使用。更多檢測問題請咨詢客服。

標簽：