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薄膜厚度儀檢測報告如何辦理？檢測項目及標準有哪些？百檢第三方檢測機構(gòu)，嚴格按照薄膜厚度儀檢測相關(guān)標準進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。

涉及薄膜厚度儀的標準有100條。

國際標準分類中，薄膜厚度儀涉及到金屬材料試驗、表面處理和鍍涂、長度和角度測量、分析化學、有機化學、信息技術(shù)應(yīng)用、涂料和清漆、有色金屬、橡膠和塑料制品、運動設(shè)備和設(shè)施、罐、聽、管、磁性材料、無損檢測、陶瓷、數(shù)據(jù)存儲設(shè)備、麻袋、袋子、非金屬礦。

在中國標準分類中，薄膜厚度儀涉及到金屬物理性能試驗方法、材料防護、基礎(chǔ)標準與通用方法、基礎(chǔ)標準與通用方法、工業(yè)技術(shù)玻璃、有機化工原料綜合、、涂料、長度計量、電子計算機應(yīng)用、電工絕緣材料及其制品、貴金屬及其合金、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標準與通用方法、塑料型材、供水、排水器材設(shè)備、包裝材料與容器、基礎(chǔ)標準和通用方法、紙漿與紙板、金屬理化性能試驗方法綜合、光學計量、金屬無損檢驗方法、涂料基礎(chǔ)標準與通用方法、特種陶瓷、數(shù)據(jù)媒體、包裝方法、建材原料礦、。

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

GB/T 40279-2021硅片表面薄膜厚度的測試光學反射法

GB/T 36969-2018納米技術(shù)原子力顯微術(shù)測定納米薄膜厚度的方法

未注明發(fā)布機構(gòu)，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

GB/T 38518-2020柔性薄膜基體上涂層厚度的測量方法

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

GB/T 36053-2018X射線反射法測量薄膜的厚度、密度和界面寬度儀器要求、準直和定位、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和報告

GB/T 33826-2017玻璃襯底上納米薄膜厚度測量 觸針式輪廓儀法

GB/T 33399-2016光學功能薄膜聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜厚度測定方法

GB/T 33051-2016光學功能薄膜表面硬化薄膜硬化層厚度測定方法

，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

SIS 18 41 58-1973油漆．由刻度盤指示器線性測量測定薄膜厚度

SIS 18 41 59 E-1967色漆、清漆和相關(guān)產(chǎn)品．使用永久磁力表的磁力底座上的薄膜厚度的測定

中國團體標準，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

T/XAI 8-2021覆晶薄膜化錫厚度測試方法庫侖法

國際標準化組織，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

IEC/TR 63258-2021納米技術(shù).評估納米薄膜厚度的橢偏儀應(yīng)用指南

ISO 16413:2020通過X射線反射法評估薄膜的厚度 密度和界面寬度 - 儀器要求 對準和定位 數(shù)據(jù)采集 數(shù)據(jù)分析和報告

ISO 19399:2016涂料和清漆.用于測定薄膜厚度的楔形切割法(劃線法和鉆法)

ISO 16413:2013X射線反射計用薄膜的厚度、密度和接口寬度的評估.儀器邀請,校準和定位,數(shù)據(jù)收集,數(shù)據(jù)分析和報告

ISO 4593-1993塑料制品；薄膜和薄片——用機械掃描法測定厚度

ISO 4593:1993塑料 薄膜和薄板 機械掃描測定厚度

ISO 4591-1992塑料制品；薄膜和薄片——用重量分析技術(shù)（重量分析厚度）測定樣品的平均厚度、軋輥的平均厚度和成品率

ISO 4593-1979塑料.薄膜和薄板.機械掃描法測定厚度

ISO 4593:1979塑料.薄膜和薄板.機械掃描測定厚度

ISO 4591:1979塑料.薄膜和薄板.用重量分析技術(shù)（重量分析厚度）測定樣品的平均厚度和卷的平均厚度和產(chǎn)量

ISO 4591-1979塑料.薄膜和薄板.用重量分析技術(shù)（重量分析厚度）測定樣品的平均厚度和卷的平均厚度和產(chǎn)量

ISO 5972-1978云母塊、薄片、薄膜和裂片.厚度測量

ISO 5972:1978云母塊、薄片、薄膜和劈裂疊層.厚度的測定

國際電工委員會，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

IEC TR 63258:2021納米技術(shù).用于評估納米薄膜厚度的橢偏儀應(yīng)用指南

IEC TR 63258-2021納米技術(shù).用于評估納米薄膜厚度的橢偏儀應(yīng)用指南

美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

ASTM D8331/D8331M-20用加固光學干涉法用非破壞性方法測量薄膜涂層厚度的標準試驗方法

ASTM D5796-20使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統(tǒng)的干膜厚度的標準測試方法

ASTM D823-18在試驗板上生產(chǎn)均勻厚度油漆涂層和相關(guān)產(chǎn)品的薄膜的標準實施規(guī)程

ASTM D5796-10用鉆孔裝置進行破壞法測量薄膜涂覆系統(tǒng)的干膜厚度的標準試驗方法

ASTM E252-06質(zhì)量測量法測定箔片、薄板和薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM E252-06(2013)采用質(zhì)量測量的箔片, 薄板和薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM D4801-050.25mm(0.010英寸)或更大厚度聚乙烯薄膜標準規(guī)范

ASTM E252-05質(zhì)量測量法測定薄箔、薄板和薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM E252-04用質(zhì)量測量法測定薄箔和薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM D5796-03用鉆孔裝置破壞性測量薄膜盤繞覆層系統(tǒng)的干膜厚度的標準試驗方法

ASTM D5796-03(2010)用鉆孔裝置破壞性測量薄膜盤繞覆層系統(tǒng)的干膜厚度的標準試驗方法

ASTM D5796-99使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統(tǒng)的干膜厚度的標準測試方法

ASTM E252-84(1999)稱重法測定薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM D4801-95(2001)0.25mm(0.010英寸)或更大厚度聚乙烯薄膜標準規(guī)范

ASTM D4801-950.25mm(0.010英寸)或更大厚度聚乙烯薄膜標準規(guī)范

ASTM D4801-95(2001)e10.25mm(0.010英寸)或更大厚度聚乙烯薄膜標準規(guī)范

英國標準學會，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

BS ISO 19399:2016涂料和清漆.用于測定薄膜厚度的楔形切割法(劃線法和鉆法)

BS ISO 16413:2013采用X射線反射計對薄膜厚度, 密度和接口寬度的評估. 儀器要求. 校準和定位, 數(shù)據(jù)收集, 數(shù)據(jù)分析和報告

BS EN 15836-1-2010塑料.地面游泳池用增塑聚(氯乙烯)(PVC-P)薄膜.第1部分: 標稱厚度等于或大于0.75 mm的同質(zhì)薄膜.

BS EN 15042-1-2006覆層厚度測量和表面波紋表征.使用激光感應(yīng)表面聲波法測定薄膜的彈性常數(shù),密度和厚度用指南

BS 5806-1979云母塊、薄片、薄膜和碎片的厚度測量法

德國標準化學會，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

DIN SPEC 55661-2013使用超聲波測量計測定涂層薄膜厚度

DIN EN 15836-1-2010塑料.地面游泳池用增塑聚乙烯(氯乙烯)(PVC-P)薄膜.第1部分:標稱厚度等于或大于0.75 mm的同質(zhì)薄膜.德文版本EN 15836-1-2010

DIN EN 15836-2-2010塑料.地面游泳池用增塑聚乙烯(氯乙烯)(PVC-P)薄膜.第2部分:標稱厚度等于或大于1.5 mm的強化薄膜.德文版本EN 15836-2-2010

DIN EN 13048-2009包裝.鋁軟管.內(nèi)部清漆薄膜厚度測量方法.英文版本DIN EN 13048-2009-08

PAS 1022-2004檢測材料及介電材料性質(zhì)以及用橢偏儀測量薄膜層厚度的參考程序

DIN 55543-1-1986包裝試驗.塑料袋試驗方法.薄膜厚度的測定

行業(yè)標準-有色金屬，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

YS/T 839-2012硅襯底上絕緣體薄膜厚度及折射率的橢圓偏振測試方法

美國通用公司（全球），關(guān)于薄膜厚度儀的標準

GMW GMW16170-2011薄膜.納米厚度(NT)的預(yù)處理一般質(zhì)量要求.第2次出版(英文版本)

法國標準化協(xié)會，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

NF T54-803-1-2010塑料.埋地型游泳池用增塑聚氯乙烯薄膜(PVC-P).第1部分:大于等于0.75 mm標稱厚度的同質(zhì)薄膜

NF T54-803-2-2010塑料.游泳池鋪地用增塑聚氯乙烯(PVC-P)薄膜.第2部分:標稱厚度≥1.5 mm的增強薄膜

NF T54-803-2-2007塑料.游泳池鋪地用增塑聚氯乙烯(PVC-P)薄膜.第2部分:標稱厚度≥1.5 mm的增強薄膜

NF T54-803-1-2006塑料.游泳池用增塑聚氯乙烯薄膜.規(guī)范和試驗方法.第1部分:大于等于0.75mm標稱厚度的同質(zhì)薄膜

NF T30-124-1991涂料和清漆 .干性薄膜厚度測量.磁通量無損測量法

NF T30-123-1974涂料.干性薄膜厚度的測定.顯微鏡方法

NF T30-122-1974涂料.干性薄膜厚度的測定.標度量規(guī)法

NF T30-121-1974涂料.干性薄膜厚度的測定.千分尺測量法

NF T30-125-1974涂料.濕性薄膜厚度的測定

歐洲標準化委員會，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

EN 15836-2-2010塑料.游泳場用增塑聚氯乙烯(PVC-P)薄膜.第2部分:等于或大于1.5mm厚度的增強膜

EN 15836-1-2010塑料.游泳場用增塑聚氯乙烯(PVC-P)薄膜.第1部分:等于或大于0.75mm厚度的同質(zhì)膜

EN 13048-2009包裝.鋁軟管.內(nèi)部清漆薄膜厚度測量方法

EN 13048-2000包裝.鋁軟管.內(nèi)部清漆薄膜厚度測量方法

韓國科技標準局，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

KS C 6111-5-2008利用微波測定高溫超導薄膜的厚度

KS M ISO 4591:2007塑料.薄片和薄膜.以重量分析技術(shù)(重量分析厚度)測定試樣的平均厚度和一卷的量和平均厚度

KS M ISO 4593:2002塑料.薄膜和薄板.機械掃描測定厚度

美國通用公司（北美），關(guān)于薄膜厚度儀的標準

GM 9986321-2008薄膜.納米厚度(NT)預(yù)處理通用質(zhì)量標準

(美國)福特汽車標準，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

FORD ESB-M99J344-A-2006*小薄膜厚度38微米的單組分、可印刷、非遮蔽型耐開裂涂料*與標準FORD WSS-M99P1111-A一起使用*

FORD ESB-M99J337-A2-2006*小薄膜厚度為130 MICRO M、與基底面漆相容的可印刷、熱固化、非遮蔽型單組分氨基甲酸酯耐開裂涂料*與標準FORD WSS-M99P1111-A一起使用*．列于標準ESB-M99J337-A上

FORD ESB-M99J337-A-2006*小薄膜厚度為130 MICRO M的可印刷、熱固化、非遮蔽型單組分氨基甲酸酯耐開裂涂料*與標準FORD WSS-M99P1111-A一起使用*

FORD FLTM EU-BQ 010-01-2000陽極化鋁的薄膜厚度測定

FORD WSB-M4G276-B2-1993紅外輻射預(yù)凝膠型*小薄膜厚度0.25 MM的耐開裂可印刷乙烯基密封劑

FORD WSB-M4G276-C-1990*小薄膜厚度0.25 MM的耐開裂可印刷乙烯基密封劑

國家*用標準-國防科工委，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

GJB/J 5463-2005光學薄膜折射率和厚度測試儀檢定規(guī)程

澳大利亞標準協(xié)會，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

AS 1580.107.1-2004涂料和相關(guān)材料.試驗方法.金屬試驗板材的預(yù)處理.干薄膜塊的濕薄膜厚度測定

AS 1580.108.2-2004涂料和相關(guān)材料.試驗方法.干薄膜厚度.涂料檢查量規(guī)

AS/NZS 1580.107.3-1997油漆及類似材料 測試方法 用量規(guī)測定濕薄膜厚度

AS/NZS 1580.107.8-1995涂料和相關(guān)材料.試驗方法.通過濕薄膜厚度確定油漆使用的推薦分布率

AS/NZS 1580.107.2-1995涂料和相關(guān)材料.試驗方法.金屬試驗板材的預(yù)處理.濕薄膜塊的濕薄膜厚度測定

AS/NZS 1580.108.1-1994油漆及類似材料 測試方法 在金屬底層上用非破壞性方法測定干薄膜厚度

日本工業(yè)標準調(diào)查會，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

JIS K5600-1-7 ERRATUM 1-2002涂料的試驗方法.第1部分:總則.第7節(jié):薄膜厚度的測定(勘誤1)

JIS K7130-1999塑料.薄膜和片材.厚度測定

JIS R1636-1998精細陶瓷薄膜厚度的試驗方法.用接觸探針式表面光度計法測定薄膜厚度

美國齒輪制造商協(xié)會，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

AGMA 2000FTM5-2000粘度指數(shù)改善劑對薄膜厚度影響的系統(tǒng)調(diào)查

歐洲航空航天和國防工業(yè)標準化協(xié)會，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

ASD-STAN PREN 4061-1996航空航天系列．25≤a≤64的釬焊厚度25測微計用填充金屬中的不定形薄膜．測微計尺寸;第P2版

ASD-STAN PREN 4066-1996航空航天系列．釬焊用填料金屬中的厚度為25微米≤a≤100微米的硼化物薄膜尺寸;第P2版

美國國家標準學會，關(guān)于薄膜厚度儀的標準

ANSI INCITS 179-1990信息系統(tǒng).接觸式起止金屬薄膜存儲磁盤.9.5-mm(3.740-in)外徑和25-mm(0.984-in)內(nèi)徑及1.27-mm(0.050-in)厚度的每磁道83333磁通轉(zhuǎn)變次數(shù) 代替ANSI X3.179-1990

檢測報告有效期

一般薄膜厚度儀檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間，不會標注有效期。

檢測費用價格

需要根據(jù)檢測項目、樣品數(shù)量及檢測標準而定，請聯(lián)系我們確定后報價。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容為部分列舉，僅供參考使用。更多檢測問題請咨詢客服。