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反光片檢測(cè)檢驗(yàn)認(rèn)證測(cè)試

檢測(cè)報(bào)告圖片

檢測(cè)報(bào)告圖片

反光片檢測(cè)性能檢測(cè)單位檢測(cè)中心可以為您提供材料成分分析、指標(biāo)檢測(cè)、性能測(cè)試等服務(wù)。檢測(cè)報(bào)告可以提高消費(fèi)者對(duì)您產(chǎn)品的信賴。

檢測(cè)項(xiàng)目

厚度偏差、薄膜表面質(zhì)量檢測(cè)、膜卷外觀檢測(cè)、寬度偏差、接頭數(shù)目、每段長度、防腐蝕性能、氣相緩蝕能力、接觸腐蝕能力、與銅的相容性、交變濕熱試驗(yàn)等。

檢測(cè)范圍

鏡面反燈光片、晶格反燈光片、納米反燈光片、自行車反燈光片、塑料反燈光片。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T26068-2018硅片和硅錠載流子復(fù)合壽命的測(cè)試非接觸微波反射光電導(dǎo)衰減法

GB/T40279-2021硅片表面薄膜厚度的測(cè)試光學(xué)反射法

GB/T24578-2015硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測(cè)試方法

GB/T30701-2014表面化學(xué)分析硅片工作標(biāo)準(zhǔn)樣品表面元素的化學(xué)收集方法和全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測(cè)定

GB/T40110-2021表面化學(xué)分析全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測(cè)定硅片表面元素污染

GB/T26070-2010化合物半導(dǎo)體拋光晶片亞表面損傷的反射差分譜測(cè)試方法

HG/T4360-2012電影黑白光學(xué)聲音底片和高反差正片感光度測(cè)定方法

GB/T17169-1997硅拋光片和外延片表面質(zhì)量光反射測(cè)試方法

檢測(cè)時(shí)間周期

一般3-10天出報(bào)告,有的項(xiàng)目1天出報(bào)告,具體根據(jù)反光片檢測(cè)檢驗(yàn)認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目而定。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般反光片檢測(cè)檢驗(yàn)認(rèn)證測(cè)試報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)流程步驟

1、電話溝通、確認(rèn)需求;

2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);

3、郵寄樣品、安排檢測(cè);

4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報(bào)告、售后服務(wù);

6、如需加急、優(yōu)先處理;

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示:以上關(guān)于《反光片檢測(cè)檢驗(yàn)認(rèn)證測(cè)試》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國,更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。

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