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檢測項(xiàng)目及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一覽表
序號 | 檢測標(biāo)準(zhǔn) | 檢測對象 | 檢測項(xiàng)目 |
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1 | 半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.1 | 電壓比較器、運(yùn)算放大器 | 輸入失調(diào)電壓 |
2 | 半導(dǎo)體器件 集成電路第3部分:模擬集成電路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇,第2節(jié),5 | 電壓比較器、運(yùn)算放大器 | 輸入失調(diào)電壓 |
3 | 半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.3 | 電壓比較器、運(yùn)算放大器 | 輸入失調(diào)電流 |
4 | 半導(dǎo)體器件 集成電路第3部分:模擬集成電路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇,第2節(jié),6 | 電壓比較器、運(yùn)算放大器 | 輸入失調(diào)電流 |
5 | 半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.5 | 電壓比較器、運(yùn)算放大器 | 輸入偏置電流 |
6 | 半導(dǎo)體器件 集成電路第3部分:模擬集成電路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇,第2節(jié),7 | 電壓比較器、運(yùn)算放大器 | 輸入偏置電流 |
7 | 半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.8 | 電壓比較器、運(yùn)算放大器 | 開環(huán)電壓增益 |
8 | 半導(dǎo)體器件 集成電路第3部分:模擬集成電路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇,第2節(jié),10 | 電壓比較器、運(yùn)算放大器 | 開環(huán)電壓增益 |
9 | 半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.9 | 電壓比較器、運(yùn)算放大器 | 共模抑制比 |
10 | 半導(dǎo)體器件 集成電路第3部分:模擬集成電路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇,第2節(jié),12 | 電壓比較器、運(yùn)算放大器 | 共模抑制比 |
檢測時(shí)間周期
一般3-10天出報(bào)告,有的項(xiàng)目1天出報(bào)告,具體根據(jù)電壓比較器、運(yùn)算放大器檢測項(xiàng)目而定。
檢測報(bào)告有效期
一般電壓比較器、運(yùn)算放大器檢測報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
檢測流程步驟
1、電話溝通、確認(rèn)需求;
2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);
3、郵寄樣品、安排檢測;
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;
5、出具報(bào)告、售后服務(wù);
6、如需加急、優(yōu)先處理;
溫馨提示:以上關(guān)于《電壓比較器、運(yùn)算放大器檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機(jī)構(gòu)遍布全國,更多檢測需求請咨詢客服。