檢測(cè)報(bào)告圖片
檢測(cè)報(bào)告圖片模板
檢測(cè)項(xiàng)目及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一覽表
| 序號(hào) | 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) | 檢測(cè)對(duì)象 | 檢測(cè)項(xiàng)目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 微波元器件性能測(cè)試方法 GJB 2650-1996 方法2006 | 微波混合集成電路 | 1dB壓縮點(diǎn)輸出功率電平 |
| 2 | 微波元器件性能測(cè)試方法 GJB 2650-1996 方法2006 | 微波混合集成電路 | 1dB壓縮輸入功率電平 |
| 3 | 微波元器件性能測(cè)試方法 GJB 2650-1996 方法2007 | 微波混合集成電路 | 三階互調(diào)（交調(diào)）截點(diǎn)功率電平 |
| 4 | 微波元器件性能測(cè)試方法 GJB 2650-1996 方法1012 | 微波混合集成電路 | 倍頻效率 |
| 5 | 微波元器件性能測(cè)試方法 GJB 2650-1996 方法1012 | 微波混合集成電路 | 變頻效率 |
| 6 | 微波元器件性能測(cè)試方法 GJB 2650-1996 方法2010 | 微波混合集成電路 | 噪聲系數(shù) |
| 7 | 微波元器件性能測(cè)試方法 GJB 2650-1996 方法2005 | 微波混合集成電路 | 增益 |
| 8 | 微波元器件性能測(cè)試方法 GJB 2650-1996 方法1004 | 微波混合集成電路 | 增量衰減 |
| 9 | 微波元器件性能測(cè)試方法 GJB 2650-1996 方法1006 | 微波混合集成電路 | 幅度及相位均衡性 |
| 10 | 微波元器件性能測(cè)試方法 GJB 2650-1996 方法1002 | 微波混合集成電路 | 插入損耗 |
檢測(cè)時(shí)間周期
一般3-10天出報(bào)告，有的項(xiàng)目1天出報(bào)告，具體根據(jù)微波混合集成電路檢測(cè)項(xiàng)目而定。
檢測(cè)報(bào)告有效期
一般微波混合集成電路檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
檢測(cè)流程步驟
1、電話溝通、確認(rèn)需求；
2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià)；
3、郵寄樣品、安排檢測(cè)；
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋；
5、出具報(bào)告、售后服務(wù)；
6、如需加急、優(yōu)先處理；
溫馨提示：以上關(guān)于《微波混合集成電路檢測(cè)》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。
