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內(nèi)部目檢檢測

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內(nèi)部目檢檢測

檢測項目及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一覽表

序號 檢測標(biāo)準(zhǔn) 檢測對象 檢測項目
1 半導(dǎo)體分立器件試驗方法和程序 方法2073&2074 內(nèi)部目檢 內(nèi)部目檢
2 微電子器件試驗方法和程序 方法2010.1&2017.1 內(nèi)部目檢 內(nèi)部目檢
3 微電子器件試驗方法和程序 方法2010 內(nèi)部目檢 內(nèi)部目檢
4 塑封微電路選擇、篩選及鑒定程序 方法5.3.5 內(nèi)部目檢 內(nèi)部目檢
5 半導(dǎo)體分立器件試驗方法2075 內(nèi)部目檢 內(nèi)部目檢
6 電氣、電子和機電元器件破壞性物理分析方法 內(nèi)部目檢 內(nèi)部目檢

檢測時間周期

一般3-10天出報告,有的項目1天出報告,具體根據(jù)內(nèi)部目檢檢測項目而定。

檢測報告有效期

一般內(nèi)部目檢檢測報告上會標(biāo)注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標(biāo)注有效期。

檢測流程步驟

1、電話溝通、確認(rèn)需求;

2、推薦方案、確認(rèn)報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報告、售后服務(wù);

6、如需加急、優(yōu)先處理;

檢測流程步驟

溫馨提示:以上關(guān)于《內(nèi)部目檢檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國,更多檢測需求請咨詢客服。

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