檢測(cè)報(bào)告圖片
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檢測(cè)項(xiàng)目及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一覽表
| 序號(hào) | 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) | 檢測(cè)對(duì)象 | 檢測(cè)項(xiàng)目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 個(gè)人識(shí)別用卡和安全裝置 非接觸式感應(yīng)物體 第1部分：物理特性 ISO/IEC 14443-1-2018 4.1 | 非接觸式IC卡 | 卡尺寸 |
| 2 | 識(shí)別卡 無觸點(diǎn)的集成電路卡 鄰近式卡 第1部分:物理特性 GB/T 22351.1-2008 4.2 | 非接觸式IC卡 | 卡尺寸 |
| 3 | 建設(shè)事業(yè)集成電路（IC）卡應(yīng)用技術(shù)條件 CJ/T 166-2014 5.1.1 | 非接觸式IC卡 | 卡尺寸 |
| 4 | 個(gè)人識(shí)別用卡和安全裝置 非接觸式感應(yīng)物體 第1部分：物理特性 ISO/IEC 14443-1-2018 4.1 | 非接觸式IC卡 | 溫度、濕度條件下卡尺寸的穩(wěn)定性和翹曲 |
| 5 | 識(shí)別卡 無觸點(diǎn)的集成電路卡 鄰近式卡 第1部分:物理特性 GB/T 22351.1-2008 4.1 | 非接觸式IC卡 | 溫度、濕度條件下卡尺寸的穩(wěn)定性和翹曲 |
| 6 | 建設(shè)事業(yè)集成電路（IC）卡應(yīng)用技術(shù)條件 CJ/T 166-2014 5.2.1 | 非接觸式IC卡 | 溫度、濕度條件下卡尺寸的穩(wěn)定性和翹曲 |
| 7 | 識(shí)別卡 無觸點(diǎn)的集成電路卡 鄰近式卡 第1部分:物理特性 GB/T 22351.1-2008 4.3.1 | 非接觸式IC卡 | 紫外線 |
| 8 | 建設(shè)事業(yè)集成電路（IC）卡應(yīng)用技術(shù)條件 CJ/T 166-2014 5.2.1 | 非接觸式IC卡 | 紫外線 |
| 9 | 個(gè)人識(shí)別用卡和安全裝置 非接觸式感應(yīng)物體 第1部分：物理特性 ISO/IEC 14443-1-2018 4.1 | 非接觸式IC卡 | 紫外線 |
| 10 | 個(gè)人識(shí)別用卡和安全裝置 非接觸式感應(yīng)物體 第1部分：物理特性 ISO/IEC 14443-1-2018 4.1 | 非接觸式IC卡 | X射線 |
檢測(cè)時(shí)間周期
一般3-10天出報(bào)告，有的項(xiàng)目1天出報(bào)告，具體根據(jù)非接觸式IC卡檢測(cè)項(xiàng)目而定。
檢測(cè)報(bào)告有效期
一般非接觸式IC卡檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
檢測(cè)流程步驟
1、電話溝通、確認(rèn)需求；
2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià)；
3、郵寄樣品、安排檢測(cè)；
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋；
5、出具報(bào)告、售后服務(wù)；
6、如需加急、優(yōu)先處理；
溫馨提示：以上關(guān)于《非接觸式IC卡檢測(cè)》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。
