檢測(cè)報(bào)告圖片
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檢測(cè)項(xiàng)目及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一覽表
| 序號(hào) | 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) | 檢測(cè)對(duì)象 | 檢測(cè)項(xiàng)目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半導(dǎo)體激光二*管組件測(cè)試方法 YD/T 701-1993 3.4 | 光發(fā)送/接收組件 | IPo特性 |
| 2 | 半導(dǎo)體激光二*管組件測(cè)試方法 YD/T 701-1993 3.7 | 光發(fā)送/接收組件 | IV特性 |
| 3 | PIN-FET光接收組件測(cè)試方法 YD/T 702-2018 A.2 | 光發(fā)送/接收組件 | PD反向擊穿電壓 |
| 4 | PIN-FET光接收組件測(cè)試方法 YD/T 702-2018 A.2 | 光發(fā)送/接收組件 | PD暗電流 |
| 5 | *用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 1202 2.7 | 光發(fā)送/接收組件 | 內(nèi)部目檢 |
| 6 | 基礎(chǔ)環(huán)境試驗(yàn)程序 第2部分：試驗(yàn)-試驗(yàn)Q：密封 IEC 60068-2-17-1994 3 | 光發(fā)送/接收組件 | 粗檢漏 |
| 7 | 基礎(chǔ)環(huán)境試驗(yàn)程序 第2部分：試驗(yàn)-試驗(yàn)Q：密封 IEC 60068-2-17-1994 6 | 光發(fā)送/接收組件 | 細(xì)檢漏 |
| 8 | 半導(dǎo)體激光二*管組件測(cè)試方法 YD/T 701-1993 3.3 | 光發(fā)送/接收組件 | 閾值電流 |
檢測(cè)時(shí)間周期
一般3-10天出報(bào)告，有的項(xiàng)目1天出報(bào)告，具體根據(jù)光發(fā)送/接收組件檢測(cè)項(xiàng)目而定。
檢測(cè)報(bào)告有效期
一般光發(fā)送/接收組件檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
檢測(cè)流程步驟
1、電話溝通、確認(rèn)需求；
2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià)；
3、郵寄樣品、安排檢測(cè)；
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋；
5、出具報(bào)告、售后服務(wù)；
6、如需加急、優(yōu)先處理；
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