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檢測項目及執(zhí)行標準一覽表
| 序號 | 檢測標準 | 檢測對象 | 檢測項目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半導體器件 光電子器件分規(guī)范 GB/T 12565-1990 3.4.1 | 半導體分立器件發(fā)光二*管 | 不工作器件 |
| 2 | 半導體器件 分立器件 第3部分：信號(包括開關)和調整二*管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章 第1節(jié) 2 | 半導體分立器件發(fā)光二*管 | 反向電流 |
| 3 | 半導體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件測試方法 GB/T 15651.3-2003 3.1 | 半導體分立器件發(fā)光二*管 | 發(fā)光強度 |
| 4 | 半導體器件 機械和氣候試驗方法 GB/T 4937-1995 第Ⅱ篇 2.1 | 半導體分立器件發(fā)光二*管 | 可焊性 |
| 5 | 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 GB/T 4589.1-2006IEC 60747-10:1991 4.3.1.1 | 半導體分立器件發(fā)光二*管 | 外部目檢 |
| 6 | 半導體器件 光電子器件分規(guī)范 GB/T 12565-1990 附錄B | 半導體分立器件發(fā)光二*管 | 尺寸 |
| 7 | 半導體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件測試方法 GB/T 15651.3-2003 3.3 | 半導體分立器件發(fā)光二*管 | 峰值發(fā)射波長 |
| 8 | 半導體器件 機械和氣候試驗方法 GB/T 4937-1995 第Ⅱ篇 1.1，1.2 | 半導體分立器件發(fā)光二*管 | 引出端強度 |
| 9 | 半導體器件 機械和氣候試驗方法 GB/T 4937-1995 第Ⅱ篇 3,4 | 半導體分立器件發(fā)光二*管 | 機械沖擊或振動 |
| 10 | 半導體器件 分立器件 第3部分：信號(包括開關)和調整二*管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章 第1節(jié) 1 | 半導體分立器件發(fā)光二*管 | 正向電壓 |
檢測時間周期
一般3-10天出報告，有的項目1天出報告，具體根據半導體分立器件發(fā)光二*管檢測項目而定。
檢測報告有效期
一般半導體分立器件發(fā)光二*管檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。
檢測流程步驟
1、電話溝通、確認需求；
2、推薦方案、確認報價；
3、郵寄樣品、安排檢測；
4、進度跟蹤、結果反饋；
5、出具報告、售后服務；
6、如需加急、優(yōu)先處理；
溫馨提示：以上關于《半導體分立器件發(fā)光二*管檢測》內容僅為部分列舉供參考使用，百檢網匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質的檢測機構遍布全國，更多檢測需求請咨詢客服。
