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檢測項目及執(zhí)行標準一覽表
| 序號 | 檢測標準 | 檢測對象 | 檢測項目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.15條 | CMOS電路CPLDFPGA | 電源電流I<Sub>DD</Sub> |
| 2 | 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.15條 | CMOS電路CPLDFPGA | 電源電流I<Sub>DD</Sub> |
| 3 | 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.3條 | CMOS電路CPLDFPGA | 輸入低電平電壓V<Sub>IL</Sub> |
| 4 | 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.3條 | CMOS電路CPLDFPGA | 輸入低電平電壓V<Sub>IL</Sub> |
| 5 | 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.10條 | CMOS電路CPLDFPGA | 輸入低電平電流I<Sub>IL</Sub> |
| 6 | 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.10條 | CMOS電路CPLDFPGA | 輸入低電平電流I<Sub>IL</Sub> |
| 7 | 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.1條 | CMOS電路CPLDFPGA | 輸入鉗位電壓 V<Sub>IK</Sub> |
| 8 | 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.1條 | CMOS電路CPLDFPGA | 輸入鉗位電壓 V<Sub>IK</Sub> |
| 9 | 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.2條 | CMOS電路CPLDFPGA | 輸入高電平電壓V<Sub>IH</Sub> |
| 10 | 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.2條 | CMOS電路CPLDFPGA | 輸入高電平電壓V<Sub>IH</Sub> |
檢測時間周期
一般3-10天出報告，有的項目1天出報告，具體根據(jù)CMOS電路CPLDFPGA檢測項目而定。
檢測報告有效期
一般CMOS電路CPLDFPGA檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。
檢測流程步驟
1、電話溝通、確認需求；
2、推薦方案、確認報價；
3、郵寄樣品、安排檢測；
4、進度跟蹤、結(jié)果反饋；
5、出具報告、售后服務(wù)；
6、如需加急、優(yōu)先處理；
溫馨提示：以上關(guān)于《CMOS電路CPLDFPGA檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國，更多檢測需求請咨詢客服。
