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閘流晶體管檢測

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閘流晶體管檢測

檢測項目及執(zhí)行標準一覽表

序號 檢測標準 檢測對象 檢測項目
1 半導體器件 分立器件 第6部分:閘流晶體管 第二篇 100A以下環(huán)境或管殼額定的雙向三*閘流晶體管空白詳細規(guī)范 GB/T 6590-1998 8 表3 C7 閘流晶體管 交變濕熱
2 半導體器件 分立器件 第6部分:閘流晶體管 *篇 100A以下環(huán)境或管殼額定反向阻斷三*閘流晶體管空白詳細規(guī)范 GB/T 6352-1998 8 表1 A2b 閘流晶體管 反向重復峰值電流
3 半導體器件 分立器件 第6部分:閘流晶體管 *篇 100A以下環(huán)境或管殼額定反向阻斷三*閘流晶體管空白詳細規(guī)范 GB/T 6352-1998 8 表1 A1 閘流晶體管 外部檢驗
4 半導體器件 分立器件 第6部分:閘流晶體管 第二篇 100A以下環(huán)境或管殼額定的雙向三*閘流晶體管空白詳細規(guī)范 GB/T 6590-1998 8 表1 A1 閘流晶體管 外部目驗
5 半導體器件 分立器件 第6部分:閘流晶體管 *篇 100A以下環(huán)境或管殼額定反向阻斷三*閘流晶體管空白詳細規(guī)范 GB/T 6352-1998 8 表2 B5 閘流晶體管 密封(對空腔器件)
6 半導體器件 分立器件 第6部分:閘流晶體管 第二篇 100A以下環(huán)境或管殼額定的雙向三*閘流晶體管空白詳細規(guī)范 GB/T 6590-1998 8 表2 B5 閘流晶體管 對空腔器件密封
7 半導體器件 分立器件 第6部分:閘流晶體管 *篇 100A以下環(huán)境或管殼額定反向阻斷三*閘流晶體管空白詳細規(guī)范 GB/T 6352-1998 8 表2 B1 閘流晶體管 尺寸
8 半導體器件 分立器件 第6部分:閘流晶體管 第二篇 100A以下環(huán)境或管殼額定的雙向三*閘流晶體管空白詳細規(guī)范 GB/T 6590-1998 8 表2 B1 閘流晶體管 尺寸
9 半導體器件 分立器件 第6部分:閘流晶體管 *篇 100A以下環(huán)境或管殼額定反向阻斷三*閘流晶體管空白詳細規(guī)范 GB/T 6352-1998 8 表2 B5 閘流晶體管 快速溫度變化
10 半導體器件 分立器件 第6部分:閘流晶體管 第二篇 100A以下環(huán)境或管殼額定的雙向三*閘流晶體管空白詳細規(guī)范 GB/T 6590-1998 8 表2 B5 閘流晶體管 快速溫度變化

檢測時間周期

一般3-10天出報告,有的項目1天出報告,具體根據(jù)閘流晶體管檢測項目而定。

檢測報告有效期

一般閘流晶體管檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。

檢測流程步驟

1、電話溝通、確認需求;

2、推薦方案、確認報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報告、售后服務;

6、如需加急、優(yōu)先處理;

檢測流程步驟

溫馨提示:以上關于《閘流晶體管檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國,更多檢測需求請咨詢客服。

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