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檢測項目及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一覽表
序號 | 檢測標(biāo)準(zhǔn) | 檢測對象 | 檢測項目 |
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1 | 低壓熔斷器 第4部分:半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016IEC 60269-4:2012 8.5 | 半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體 | 分?jǐn)嗄芰︱炞C |
2 | 低壓熔斷器 第4部分:半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016IEC 60269-4:2012 8.3 | 半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體 | 溫升和耗散功率 |
3 | 低壓熔斷器 第4部分:半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016IEC 60269-4:2012 8.4.3.1a) | 半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體 | 約定不熔斷電流 |
4 | 低壓熔斷器 第4部分:半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016IEC 60269-4:2012 8.4.3.1b) | 半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體 | 約定熔斷電流 |
5 | 低壓熔斷器 第4部分:半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016IEC 60269-4:2012 8.4.3.4 | 半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體 | 過載能力驗證 |
6 | 低壓熔斷器 第4部分:半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016IEC 60269-4:2012 8.4.3.2 | 半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體 | 額定電流驗證 |
7 | 低壓熔斷器 第4部分:半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 6 | 半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體 | 標(biāo)志 |
8 | 低壓熔斷器 第4部分:半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.1.4 | 半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體 | 尺寸 |
9 | 低壓熔斷器 第4部分:半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.1.5.1 | 半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體 | 電阻 |
10 | 低壓熔斷器 第4部分:半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.2.1 | 半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體 | 熔斷器支持件的布置 |
檢測時間周期
一般3-10天出報告,有的項目1天出報告,具體根據(jù)半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體檢測項目而定。
檢測報告有效期
一般半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體檢測報告上會標(biāo)注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標(biāo)注有效期。
檢測流程步驟
1、電話溝通、確認需求;
2、推薦方案、確認報價;
3、郵寄樣品、安排檢測;
4、進度跟蹤、結(jié)果反饋;
5、出具報告、售后服務(wù);
6、如需加急、優(yōu)先處理;
溫馨提示:以上關(guān)于《半導(dǎo)體設(shè)備保護用熔斷體檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國,更多檢測需求請咨詢客服。