檢測(cè)報(bào)告圖片
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檢測(cè)項(xiàng)目及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一覽表
序號(hào) | 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) | 檢測(cè)對(duì)象 | 檢測(cè)項(xiàng)目 |
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1 | 電子連接器和插座低溫測(cè)試程序 EIA-364-59A-2006(R2013) | 電子連接器和插座 | 低溫試驗(yàn) |
2 | 電子連接器和插座的低電平接觸電阻測(cè)試程序 EIA-364-23C-2006(R2017) | 電子連接器和插座 | 低電平接觸電阻 |
3 | 電子連接器的保持力測(cè)試程序 EIA-364-29D-2019 | 電子連接器和插座 | 保持力測(cè)試 |
4 | 電子連接器和插座的冷熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序 EIA-364-32G-2014 | 電子連接器和插座 | 冷熱沖擊試驗(yàn) |
5 | 電子連接器和插座的外觀與尺寸檢驗(yàn)測(cè)試程序 EIA-364-18B-2007(R2012) | 電子連接器和插座 | 外觀與尺寸檢驗(yàn) |
6 | 電子連接器和插座的振動(dòng)測(cè)試程序 EIA-364-28F-2011(R2017) | 電子連接器和插座 | 振動(dòng)試驗(yàn) |
7 | 電子連接器和插座間插拔力 EIA-364-13E-2011 (R2017) | 電子連接器和插座 | 插拔力測(cè)試 |
8 | 電子連接器與插座的溫升與電流測(cè)試程序 EIA-364-70C-2014 | 電子連接器和插座 | 溫升測(cè)試 |
9 | 電子連接器和插座的濕度測(cè)試程序 EIA-364-31F-2019 | 電子連接器和插座 | 濕度試驗(yàn) |
10 | 電子連接器,端子和插座的鹽霧測(cè)試程序 EIA-364-26C-2014 | 電子連接器和插座 | 鹽霧試驗(yàn) |
檢測(cè)時(shí)間周期
一般3-10天出報(bào)告,有的項(xiàng)目1天出報(bào)告,具體根據(jù)電子連接器和插座檢測(cè)項(xiàng)目而定。
檢測(cè)報(bào)告有效期
一般電子連接器和插座檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
檢測(cè)流程步驟
1、電話溝通、確認(rèn)需求;
2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);
3、郵寄樣品、安排檢測(cè);
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;
5、出具報(bào)告、售后服務(wù);
6、如需加急、優(yōu)先處理;
溫馨提示:以上關(guān)于《電子連接器和插座檢測(cè)》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó),更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。