XPS分析檢測(cè)

報(bào)告類型：【XPS分析檢測(cè)】電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)

報(bào)告資質(zhì)： CMA；CNAS

檢測(cè)周期： 3-10個(gè)工作日（特殊樣品除外）

服務(wù)地區(qū)：全國(guó)，實(shí)驗(yàn)室就近分配

檢測(cè)用途：電商平臺(tái)入駐；商超賣場(chǎng)入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗(yàn)等

樣品要求：樣品支持快遞取送/上門采樣，數(shù)量及規(guī)格等視檢測(cè)項(xiàng)而定

概覽

檢測(cè)報(bào)告圖片

1GB/T 21006-2007表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強(qiáng)度標(biāo)的線性

2GB/T 22571-2017表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)

3GB/T 25-2010X射線光電子能譜儀檢定方法

4GB/T 25185-2010表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜荷電控制和荷電校正方法的報(bào)告

5GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅層厚度的測(cè)量 X射線光電子能譜法

6GB/T 28632-2012表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率測(cè)定

7GB/T 28633-2012表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性

8GB/T 28892-2012表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表述

9GB/T 28893-2012表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜測(cè)定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息

10GB/T 29556-2013表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測(cè)到的樣品面積的測(cè)定

一般XPS分析檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

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