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半導(dǎo)體晶體管(達(dá)林頓,三極管模塊,開關(guān)管)檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)

檢測(cè)報(bào)告圖片模板

檢測(cè)報(bào)告圖片

半導(dǎo)體晶體管(達(dá)林頓,三極管模塊,開關(guān)管)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)是什么?檢驗(yàn)?zāi)男┲笜?biāo)?檢測(cè)周期多久呢?測(cè)試哪些項(xiàng)目呢?我們只做真實(shí)檢測(cè)。我們嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)和評(píng)估,確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。同時(shí),我們還根據(jù)客戶的需求,提供個(gè)性化的檢測(cè)方案和報(bào)告,幫助廠家更好地了解產(chǎn)品質(zhì)量和性能。

檢測(cè)項(xiàng)目(參考):

低溫測(cè)試、發(fā)射極-基極反向擊穿電壓V(BR)EBO、發(fā)射極-基極反向截止電流IEBO 、基極-發(fā)射極電壓VBE、基極-發(fā)射極飽和電壓VBE(sat)、開關(guān)時(shí)間測(cè)試(td(on)、tr、tf、td(off))、正向電流傳輸比HFE 、直流安全工作區(qū)、瞬態(tài)熱阻Rth、穩(wěn)態(tài)熱阻Rja、Rjc、老煉試驗(yàn)、集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO、集電極-發(fā)射極截止電流ICEO ICER ICEX ICES 、集電極-發(fā)射極截止電流ICEO 、集電極-發(fā)射極電壓VCEO 、集電極-發(fā)射極飽和電壓VCE(sat)、集電極-基極反向擊穿電壓V(BR)CBO、集電極-基極反向截止電流ICBO、集電極-基極電壓VCBO、高溫反偏試驗(yàn)、高溫測(cè)試

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)一覽:

1、GB/T4587-1994 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分 雙極型晶體管 第Ⅳ章 第2節(jié) 第2條、第4條、第5條、 第1節(jié) 第3條、第7條、第9.6條

2、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 3472

3、MIL-STD- 750F 半導(dǎo)體器件的試驗(yàn)方法 標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 MIL-STD-750F

4、GB/T 4587-1994 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分 雙極型晶體管 GB/T4587-1994

5、MIL-STD-750F 半導(dǎo)體器件的試驗(yàn)方法 標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 3036.1、3071、3066.1、3041.1、3011.2、3076.1

檢測(cè)報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高校科研等。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。常規(guī)來(lái)說(shuō)只要測(cè)試沒更新,測(cè)試不變檢測(cè)報(bào)告一直有效。如果是用于過(guò)電商平臺(tái),一般他們只認(rèn)可一年內(nèi)的。所以還要看平臺(tái)或買家的要求。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)

百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó),檢測(cè)領(lǐng)域包括食品、環(huán)境、建材、電子、化工、汽車、家居、紡織品、農(nóng)產(chǎn)品等,具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。

溫馨提示:以上內(nèi)容為部分列舉,僅供參考使用,更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。

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