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雙極型晶體管檢測哪些項目?檢測周期多久?報告有效期多久呢?我們嚴格按照標準進行檢測和評估,確保檢測結(jié)果的準確性和可靠性。同時,我們還根據(jù)客戶的需求,提供個性化的檢測方案和報告,幫助廠家更好地了解產(chǎn)品質(zhì)量和性能。我們只做真實檢測。
檢測項目(參考):
發(fā)射機-基極截止電流(直流法)IEBO、發(fā)射極電流為零時的集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO、基極-發(fā)射極飽和電壓VBESat、集電極-發(fā)射極截止電流(直流法)ICEO、集電極-發(fā)射極飽和電壓VCESat、集電極-基極截止電流(直流法)ICBO、集電極電流為零時的發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO、部分參數(shù)、發(fā)射極-基極擊穿電壓、發(fā)射極-基極截止電流、基極-發(fā)射極飽和電壓、正向電流傳輸比、集電極-發(fā)射極截止電流、集電極-發(fā)射極飽和電壓、集電極-基極擊穿電壓、集電極-基極截止電流、集電極-射極擊穿電壓、共發(fā)射極正向電流傳輸比的靜態(tài)值、基極-發(fā)射極電壓、開關(guān)時間、集電極-發(fā)射極擊穿電壓、集電極-基射極極擊穿電壓、發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO、發(fā)射極-基極截止電流IEBO、基極-發(fā)射極飽和電壓VBEsat、放大倍數(shù)HFE、集電極-發(fā)射極截止電流ICEO、集電極-發(fā)射極飽和電壓VCEsat、集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO、集電極-基極截止電流ICBO、擊穿電壓V(BR)CBO、發(fā)射極-基極截止電流IEBO、基極-發(fā)射極飽和電壓VBEsat、集電極-發(fā)射極截止電流ICEO、集電極-發(fā)射極飽和電壓VCEsat、集電極-基極截止電流ICBO、發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO、基極-發(fā)射極電壓VBE、正向電流傳輸比h21E、集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO、集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO、噪聲系數(shù)、時間參數(shù)、熱阻(結(jié)-管殼)、特征頻率、電壓參數(shù)、電容參數(shù)、電流傳輸比參數(shù)、電流參數(shù)、負載上的輸出功率、輸出導納參數(shù)、阻抗參數(shù)、集電極效率、電流輸出比、集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO、共發(fā)射極正向電流傳輸比、發(fā)射極-基級擊穿電壓、集電極-發(fā)射級擊穿電壓、集電極-基級擊穿電壓、共發(fā)射正向電流傳輸比、集電極-基極擊穿電壓、發(fā)射極-基極擊穿電壓、共發(fā)射極正向電流傳輸比h21E、發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO、發(fā)射極-基極截止電流IEBO、基極-發(fā)射極飽和電壓VBEsat、集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CE、集電極-發(fā)射極截止電流ICEO、集電極-發(fā)射極飽和電壓VCEsat、集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO、集電極-基極截止電流ICBO、基極-發(fā)射極擊穿電壓、共發(fā)射極正向電流傳輸比(h21E)、發(fā)射極-基極擊穿電壓(V(BR)EBO)、發(fā)射極-基極截止電流(IEBO)、基極-發(fā)射極飽和電壓(VBEsat)、集電極-發(fā)射極擊穿電壓(V(BR)CEO)、集電極-發(fā)射極截止電流(ICEO)、集電極-發(fā)射極飽和電壓(VCEsat)、集電極-基極擊穿電壓(V(BR)CBO)、集電極-基極截止電流(ICBO)、發(fā)射極—基極擊穿電壓、集電極—發(fā)射極擊穿電壓、集電極—基極擊穿電壓、共發(fā)射極正向電流傳輸比(輸出電壓保持不變)(直流或脈沖法)(h21E)、發(fā)射極-基極截止電流(直流法)(IEBO)、發(fā)射極電流為零時的集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO、基極-發(fā)射極電壓(直流法)(VBE)、基極-發(fā)射極飽和電壓(直流法) (VBEsat)、集電極-發(fā)射極截止電流(直流法)(ICEO、ICER、ICEX、ICES)、集電極-發(fā)射極飽和電壓(直流法) (VCEsat)、集電極-基極截止電流(直流法)(ICBO)、集電極電流為零時的發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO、發(fā)射極-基極擊截止電流、基極-發(fā)射極飽和壓降、集電極-發(fā)射極飽和壓降、共發(fā)射極正向電流傳輸比(輸出電壓保持不變)(直流或脈沖法) h21E、發(fā)射極-基極擊穿電壓 V(BR)EBO、發(fā)射極-基極截止電流 IEBO、基極-發(fā)射極飽和電壓 VBE(sat)、集電極-發(fā)射極擊穿電壓(基極開路) V(BR)CEO、集電極-發(fā)射極截止電流 ICEO、集電極-發(fā)射極飽和電壓 VCE(sat)、集電極-基極擊穿電壓 V(BR)CBO、集電極-基極截止電流 ICBO、發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO、發(fā)射極-基極截止電流IEBO、基極-發(fā)射極飽和壓降VBEsat、基極-發(fā)射極飽和電壓VBEsat、正向電流傳輸比H21E、正向電流傳輸比HFE、集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO
檢測標準一覽:
1、GJB128A-1997 半導體分立器件試驗方法 方法3011
2、GB/T 4587-1994 IEC 747-7-1988 半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 第IV章 第1節(jié)9.6
3、GB/T4587-1994 半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 第Ⅳ章 第1節(jié)10.2
4、GB/T?4587-1994 半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 第Ⅳ章第1節(jié)2.2
5、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 方法3011
6、GB/T4587-94 半導體器件分立器件第7部分雙極性型晶體管 第Ⅳ章第10.1、10.2條
7、GB/T 4589.1-2006 半導體器件 第10部分 分立器件和集成電路總規(guī)范 4
8、GB/T 4587-1994/IEC 747-7-1988 半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 第IV章 第1節(jié)10.2
9、GB/T 4587-1994 半導體器件 分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 第Ⅳ章 第1節(jié)
10、GB/T 4587-94(IEC 60747-7:1988) 半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 Ⅳ1.14
檢測優(yōu)勢:
嚴格標準:嚴格按照標準進行檢測和評估,確保檢測結(jié)果的準確性和可靠性。
個性化建議:根據(jù)客戶需求提供個性化的檢測方案和報告,幫助廠家更好地了解產(chǎn)品質(zhì)量和性能。
快速反饋:及時為客戶提供檢測結(jié)果和反饋,以便廠家能夠采取相應(yīng)的措施進行改進和完善。
便捷高效:提供靈活的服務(wù)方式和時間安排,以便客戶能夠便捷地獲得所需的檢測服務(wù)和支持。
經(jīng)驗豐富:我們擁有豐富的行業(yè)經(jīng)驗和知識儲備能夠為客戶提供相關(guān)的檢測服務(wù)支持。
檢測報告用途
商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標、高??蒲械?。
檢測報告有效期
一般檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。常規(guī)來說只要測試沒更新,測試不變檢測報告一直有效。如果是用于過電商平臺,一般他們只認可一年內(nèi)的。所以還要看平臺或買家的要求。
檢測流程步驟
第三方檢測機構(gòu)平臺
百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國,檢測領(lǐng)域包括食品、環(huán)境、建材、電子、化工、汽車、家居、紡織品、農(nóng)產(chǎn)品等,具體請咨詢在線客服。
溫馨提示:以上內(nèi)容為部分列舉,僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。