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場(chǎng)效應(yīng)管第三方檢驗(yàn)單位

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檢測(cè)報(bào)告圖片

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檢測(cè)項(xiàng)目(參考):

柵-源短路時(shí)的漏極電流、柵-源閾值電壓、柵極截止電流、靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻、漏-源擊穿電壓、柵-源截止電流、漏-源截止電流、漏-源通態(tài)電阻、跨導(dǎo)、反向柵源漏電流(IGSSR)、柵源閾值電壓(VGS(To))、正向柵源漏電流(IGSSF)、漏極截止電流(IDSS)、漏源擊穿電壓(V(BR)DSS)、漏源通態(tài)電阻(rDS(on))、柵-源截止電壓(A和B型)(VGSoff)、柵-源閾值電壓(C型)(VGSTO)、漏極截止電流、結(jié)柵型(A型)的柵極截止電流、絕緣柵型(B和C型)的柵極漏泄電流、通態(tài)漏-源電阻(rds(on))、部分參數(shù)、柵-源閾值電壓 VGS(TO)、柵極截止電流或柵極漏泄電流(漏-源短路)IGSS、正向跨導(dǎo)GFS、漏極-源極擊穿電壓 BVDSS、漏極電流、靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻 RDS(on)、小信號(hào)短路正向跨導(dǎo)gfs、柵--源擊穿電壓BVGS、漏--源斷態(tài)電阻RDSon、漏--源短路時(shí)的柵極截止電流IGSS、零柵壓時(shí)的漏極電流IDSS、柵源漏電、漏源擊穿電壓BVDSS、漏源漏電、通態(tài)漏源電阻rds(on)、閾值電壓VT、柵源閾值電壓、漏源通態(tài)電壓、小信號(hào)短路正向跨導(dǎo)gfs、柵-源截止電壓VGS(off)、柵-源閾值電壓VGS(TO)、柵極截止(漏泄)電流IGSS、漏極電流IDSS、靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻RDS、正向柵源漏電流(I、反向柵源漏電流(I、漏源通態(tài)電阻(r、柵源閾值電壓(V、柵極截止電流IGSS、柵源 截止電壓VGSoff、漏-源通態(tài)電壓VDS(ON)、漏-源通態(tài)電阻RDS(ON)、反向柵源漏電流、正向柵源漏電流、漏源擊穿電壓、漏源通態(tài)電阻、零柵壓漏極電流、柵-源閾值電壓VGS(TO)、靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻 RDS(on)、柵-源截止電壓 VGS(OFF、柵-源閾值電壓 VGS(TO、柵極截止電流或柵極漏泄電流(漏-源短路)IGSS、正向跨導(dǎo)GFS、漏極-源極擊穿電壓BVDSS、靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻 RDSon、小信號(hào)短路正向跨導(dǎo)gfs、柵--源擊穿電壓BVGS、漏--源短路時(shí)的柵極截止電流IGSS、零柵壓時(shí)的漏極電流IDSS、漏--源斷態(tài)電阻RDSon、零柵壓時(shí)的漏極電流IDSS、柵--源擊穿電壓BVGS、漏--源短路時(shí)的柵極截止電流IGSS、漏-源通態(tài)電流、漏-源通態(tài)電壓、漏-源擊穿電壓、漏極電流 IDSS、柵-源截止電壓、小信號(hào)短路正向跨導(dǎo)、柵極截止(漏泄)電流 IGSS、靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻 RDS、漏極截止電流(I、正向傳輸比、漏極電流(A、B 和C型)ID、柵-源截止電壓(A和B型)VGSoff、靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻rDSon、漏-源通態(tài)電壓VDSon和斷態(tài)電阻rDSoff、靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻 RDS(on)、正向跨導(dǎo)GFS、柵-源閾值電壓 VGS(TO)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)一覽:

1、GB/T4586-19944.15 半導(dǎo)體器件分立器件 第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管

2、GB/T4586-1994 半導(dǎo)體器件分立器件 第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管 4.1

3、GB/T 4586-1994/Ⅳ10 跨導(dǎo)

4、GB/T 4586-1994 半導(dǎo)體器件分立器件第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管 第Ⅳ章

5、GJB 128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》 方法3407

6、GB/T 4586-1994/Ⅳ15 漏源通態(tài)電壓

7、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997

8、GB/T 4586-1994/Ⅳ2 反向柵源漏電流

9、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005

10、GB/T 4586-1994/Ⅳ3 漏極電流

11、GJB548B-2005/方法1022 柵源閾值電壓

12、GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法1022

13、GJB128A-1997/方法3407 漏源擊穿電壓

14、GB/T 4586-1994 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994

15、GB/T 4586-1994/Ⅳ6 柵源閾值電壓

16、GB/T4586-19944.1 半導(dǎo)體器件分立器件 第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管

17、GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法3407

18、GB/T4586-19944.3 半導(dǎo)體器件分立器件 第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管

19、GB/T 4586-94 半導(dǎo)體器件 分立器件第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-94

20、GB/T4586-19944.4 半導(dǎo)體器件分立器件 第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管

檢測(cè)報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高??蒲械?。

如果您對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)和安全性能有嚴(yán)格要求,不妨考慮選擇我們的檢測(cè)服務(wù)。讓我們助您一臂之力,共創(chuàng)美好未來(lái)。

報(bào)告有效期多久

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。常規(guī)來(lái)說(shuō)只要測(cè)試沒(méi)更新,測(cè)試不變檢測(cè)報(bào)告一直有效。如果是用于過(guò)電商平臺(tái),一般他們只認(rèn)可一年內(nèi)的。所以還要看平臺(tái)或買家的要求。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)

百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó),檢測(cè)領(lǐng)域包括食品、環(huán)境、建材、電子、化工、汽車、家居、紡織品、農(nóng)產(chǎn)品等,具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。

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