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模擬乘法器檢測(cè)機(jī)構(gòu)

檢測(cè)報(bào)告圖片模板

檢測(cè)報(bào)告圖片

模擬乘法器檢測(cè)測(cè)試哪些指標(biāo)?檢測(cè)費(fèi)用多少?檢測(cè)周期多久呢?我們嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)和評(píng)估,確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。同時(shí),我們還根據(jù)客戶的需求,提供個(gè)性化的檢測(cè)方案和報(bào)告,幫助廠家更好地了解產(chǎn)品質(zhì)量和性能。

檢測(cè)項(xiàng)目(參考):

共模抑制比CMRR、建立時(shí)間Ts、標(biāo)度因子誤差EK、線形誤差EL(ELX、ELY)、共模抑制比KCMR、滿量程總誤差Etot、線性誤差EL、饋通誤差EF、共模抑制比、共模輸入電壓范圍、標(biāo)度因子誤差、滿量程總誤差、線性誤差、轉(zhuǎn)換速率、饋通誤差、轉(zhuǎn)換速率Sr、1%幅度誤差帶寬、壽命試驗(yàn)、建立時(shí)間

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)一覽:

1、GJB 548B-2005 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》 GJB 548B-2005

2、GB/T14029-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測(cè)試方法的基本原理 2.8節(jié)

3、GB/T 14029-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測(cè)試方法的基本原理 GB/T 14029-1992

4、GB/T 14029-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測(cè)試方法的基本原理 2.8

5、GJB 548B-2005 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》 /1005.1

檢測(cè)報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高??蒲械?。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)時(shí)間周期

一般3-10個(gè)工作日(特殊樣品除外),具體請(qǐng)咨詢客服。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)

百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó),檢測(cè)領(lǐng)域包括食品、環(huán)境、建材、電子、化工、汽車、家居、紡織品、農(nóng)產(chǎn)品等,具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。

溫馨提示:以上內(nèi)容為部分列舉,僅供參考使用,更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。

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